[发明专利]集电轨供电品质的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种集电轨检测方法，特别涉及集电轨供电品质的检测方法。

背景技术

老化测试是目前对家用电器和电子信息产品(包括元件、部件、整机、设备等电子产品)的必经程序，这些电子产品经过几小时至几十小时仿照或者等效产品的使用状态进行老化后，可以使产品的元器件达到稳定的工作状态，另外也可借此将产品的缺陷表现出来，如此，可保证出货的产品质量。所以，老化测试已成为电子产品出厂前的必备程序。老化测试设备一般都安装在老化室内，其结构主要包含置放测试产品的栈板(Pallet)；传送装置，其包含多个滚轮；以及为老化产品提供工作电源的集电轨。所述栈板置于传送装置上，并可随传送装置的滚轮的转动而沿着集电轨移动。集电轨设置在传送装置中间，其包含多个集电子，栈板背面与集电轨对应位置处设有导电金属条，栈板正面设有与老化产品连接的接头，其与栈板背面的导电金属条连接。测试时，将老化测试产品置于栈板正面，通过栈板上的导电金属条与集电轨的集电子接触，即可将集电轨上的电压连接到老化产品上使老化产品在开机状态下沿传送装置运动进行老化过程。这种老化测试设备具有自动化程度高和生产效率高等优点，已被广泛应用于各种电子产品的生产企业。

由于很长的集电轨是通过一个个集电子来传递电压，每个集电子均通过弹性支架设置在集电轨上，其可以上下运动，支架可以分别调整高度使每个集电子都能与栈板背面的导电金属条保持良好接触，如此可以保证每块栈板上的老化产品都能在运动过程中保持稳定的工作电压。但如果集电轨在制作生产时精度不够造成不平整，或经过一段时间运行后，有些弹性支架的弹力减弱或几乎消失，此时就会造成集电子高低不一致等情况，严重时会引起集电子与导电铜条接触不良而使老化产品的工作电压波动太大甚至出现断续现象，严重影响老化测试过程甚至使产品损坏，所以需要对集电轨进行定期检修。目前检查集电轨供电品质的方法主要靠目测和用直尺逐段检查，检查速度慢，检修时间长，另外对于加载时由于平整度造成集电子与导电铜条接触不良的情况很难发现，严重影响检修质量。

发明内容

本发明的目的是为了克服上述的对老化测试集电轨供电品质检测的不足之处，提供一种操作使用方便、检测速度快、准确率高的老化测试的集电轨供电品质的检测方法。

根据本发明的目的，本发明的老化测试集电轨供电品质的检测方法主要包括：

将栈板置于该集电轨的起始位置；

提供一电力质量分析仪并将其输入信号测量端与该栈板上的电源接头连接；

接通该电力质量分析仪电源，并设定其测量电压的范围；

驱动传送装置使该栈板沿该集电轨从该起始位置向前运动，其中，当该栈板运动至该集电轨供电品质异常区域时，该电力质量分析仪发出警报信息。

根据本发明的目的，本发明的检测方法还包括：

当发出该警报信息时，检测人员在该集电轨供电品质异常区域做标记；

检查该异常区域的集电子及与该些集电子连接的该些弹性支架；以及调整该些支架使得该区域内的该些集电子高度一致。

本发明借用精密电子仪器，模拟老化测试的实际工作状况对老化测试集电轨的供电品质进行带电检测，具有真实性强、准确率高、检测速度快等优点，是一种广泛适合对电子产品进行老化的集电轨的供电质量进行检测的好方法。

附图说明

图1是本发明的实施例的检测设备结构示意图；

图2是本发明的实施例的检测流程图。

具体实施方式

为进一步了解本发明的内容及凸现本发明的优点，现以具体实施方式配合附图详细阐述如下。

如图1所示，其为本发明的实施例的检测设备结构示意图。附图中的检测设备包括传送装置1，其上设有传送栈板5，传送栈板5的底部设有导电金属条3；集电轨2，其提供测试用电压，包括多个集电子及弹性支架，测试时，集电子与导电金属条3弹性接触；以及电力质量分析仪6，在本发明中，电力质量分析仪6通过导线4及接头(connector)7与导电金属条相连。本发明的传送装置1可以是传送滚轮或传送链条等；导电金属条优选的可用铜条；集电子优选的可为铜轮，且根据导电金属条的长度不同可以同时与3至6个该集电子2接触；电力质量分析仪可采用选用FLUKE公司生产的F43系列产品。

参见图2，其为本发明的实施例的检测流程图。本发明的对老化测试集电轨供电品质进行检测的方法主要包括：

将栈板置于该集电轨的起始位置；

提供一电力质量分析仪6并将其输入信号测量端与该栈板5上的电源接头7连接；