[发明专利]基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路自动化测试技术，具体地说是一种基于可编程逻辑器件(FPGA)的多芯片自动测试方法。

背景技术

集成电路测试是芯片开发的重要一环。目前集成电路测试，包括手工测试和自动化测试两种。自动化测试速度快、程度高、测试全面，所以在大批量产品测试时获得普遍的应用。但其成本高、测试过程复杂、调试周期长。而手工测试，一般在定制的测试板上实现，通过测试人员观测灯亮、声音或仪器读表完成。手工测试适用于小批量的、简单的、非全面的快速测试。

发明内容

本发明的目的在于设计一种基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法，结合自动化测试和手工测试的原理和优点，利用可编程逻辑器件(FPGA)建立一套简单的自动测试系统，可以在测试板上同时完成一个或多个芯片的自动化测试工作，不仅可以实现自动化测试，而且投入成本少、开发速度快，完全可以满足小批量产品测试的要求。

按照本发明提供的技术方案，在可编程逻辑器件中包括相互连接的采样电路、数字比较器电路、译码器及激励产生电路，其特征是：数字比较器电路的输入端与多路选择器的输出端连接，采样电路的输入端与若干个被测试芯片相连；多路选择器为数字比较器电路提供数字输入信号；被测试芯片为采样电路提供经过模数转换后的数字输入信号；激励产生电路分别与若干个被测芯片和一个已测芯片连接，为被测芯片和已测芯片提供输入信号与时钟信号；译码电路的输出端与多路选择器连接，为多路选择器提供循环控制信号，使多路选择器选择待测的被测芯片的输出信号。

在采样电路与被测试芯片之间串接多路电子开关与模数转换器，多路电子开关用于选择被测芯片的输出，模数转换器用于将被测芯片和已测芯片输出的模拟信号转换为数字信号。

在可编程逻辑器件中还包括串行接口与I²C接口；其中，串行接口用于连接PC电脑，I²C接口用于连接微控制器。

在可编程逻辑器件中还包括存储器电路，用于存储激励产生电路所需的测试向量。

在可编程逻辑器件中还包括显示电路，用于将芯片测试结果输出到显示器或指示灯。

本发明结合自动化测试和手工测试的原理和优点，利用可编程逻辑器件(FPGA)建立一套简单的自动测试系统，可以在测试板上同时完成一个或多个芯片的自动化测试工作，不仅可以实现自动化测试，而且投入成本少、开发速度快，完全可以满足小批量产品测试的要求。

附图说明

图1是本发明的电路框图。

图2是本发明的测试流程图。

具体实施方式

如图所示：在可编程逻辑器件中包括相互连接的采样电路、数字比较器电路、译码器及激励产生电路，其特征是：数字比较器电路的输入端与多路选择器的输出端连接，采样电路的输入端与若干个被测试芯片相连；多路选择器为数字比较器电路提供数字输入信号；被测试芯片为采样电路提供经过模数转换后的数字输入信号；激励产生电路分别与若干个被测芯片和一个已测芯片连接，为被测芯片和已测芯片提供输入信号与时钟信号；译码电路的输出端与多路选择器连接，为多路选择器提供循环控制信号，使多路选择器选择待测的被测芯片输出信号。

在采样电路与被测试芯片之间串接多路电子开关与模数转换器，多路电子开关用于选择被测芯片的输出，模数转换器用于将被测芯片和已测芯片输出的模拟信号转换为数字信号。

在可编程逻辑器件中还包括串行接口与I²C接口；其中，串行接口用于连接PC电脑，I²C接口用于连接微控制器。

在可编程逻辑器件中还包括存储器电路，用于存储激励产生电路所需的测试向量。

在可编程逻辑器件中还包括显示电路，用于将芯片测试结果输出到显示器或指示灯。

所谓芯片测试，就是要被测芯片(DUT)，在一组固定的输入信号激励下，产生输出，如果输出信号和期待值相同，芯片就是合格的，否则就是不合格的。这些工作，在测试机台上是完全可以实现的，但在测试板上难以实现，因而几乎没人做到。通过长期研究和实验发现，采用FPGA，完全可以实现芯片测试自动化。