[发明专利]温度计校准

权利要求书

1.一种用于校准温度计的方法，所述温度计包括主温度传感器，所述 方法包括：

将参考温度传感器靠近所述主温度传感器定位，以便检测影响主温度 传感器的外部温度；

校准所述参考温度传感器；和

基于对所述参考温度传感器的校准而校准所述主温度传感器，其中， 所述校准参考温度传感器还包括：

将所述参考温度传感器的温度控制到第一温度值；

在所述第一温度值处测量所述参考温度传感器的特性；

对于至少一个不同于所述第一温度值的其它温度值重复所述控制步骤 和测量步骤；以及

使用该温度值和测量特性来求解校准方程，所述校准方程将温度和参 考温度传感器的测量特性相关联，以便用于校准参考温度传感器，其中， 所述重复包括：

将所述参考温度传感器的温度控制到第二温度值；

在所述第二温度值处测量参考温度传感器的特性；

将所述参考温度传感器的温度控制到第三温度值；以及

在所述第三温度值处测量参考温度传感器的特性，

其中所述使用步骤包括，使用所述第一、第二和第三温度值、以及三 个相应的测量特性来求解下面校准方程以求出a、b和c：

Ts=a+bR+cR2]]>

其中Ts是所述参考温度传感器的温度，

R是所述参考温度传感器的测量特性，以及

a，b和c是根据上述三个温度值和所述三个相应的测量特性计算出的 参考温度传感器的校准系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述参考温度传感器是随温度 变化的电阻器，所述主温度传感器是热电元件，所述随温度变化的电阻器 响应于影响所述热电元件的外部温度。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述测量步骤包括测量随温度 变化的电阻器的电阻。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述控制温度步骤包括将所述 参考温度传感器浸入在温控槽中。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述控制温度步骤包括将温度 计浸入在温控槽中。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述控制温度步骤还包括将槽 温度控制在±0.01℃(±0.018华氏度)的所希望的槽温度范围内。

7.根据权利要求4所述的方法，其中，所述控制温度步骤还包括，在 测量所述特性之前，将所述参考温度传感器在温控槽中保持15分钟到30 分钟的时间。

8.根据权利要求4所述的方法，还包括，将所述参考温度传感器保持 在温控槽中，直到参考温度传感器的测量特性在至少一分钟内的变化小于 0.1％。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述定位步骤包括将所述参考 温度传感器嵌在所述主温度传感器上。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述参考温度传感器是随温 度变化的电阻器，所述主温度传感器是热电元件，所述定位步骤包括，将 所述随温度变化的电阻器靠近所述热电元件定位，以便检测影响所述热电 元件的外部温度。