[发明专利]记忆体IC检测分类机

权利要求书

1.一种记忆体IC检测分类机，其特征在于，其是包含有：

供料匣：是设在机台上，用来承置待测的记忆体IC；

收料匣：是设在机台上，并具有移载器用来搬移盛装完成检测记忆体IC的料 盘至收纳容器收置；

测试装置：是设在机台上，并设有多个测试套座，用来测试记忆体IC；

第一载送装置：是设在机台上，并设有第一载台，用来在供料匣与测试装置 间载送多个待测的记忆体IC，而第一载台是可作X方向与Y方向的错位移动， 以供取料；

第二载送装置：是设在机台上，并设有第二载台，用来在测试装置与收料匣 间载送多个完成检测的记忆体IC；

第一移料装置，是设在机台上，其设有可作X、Y、Z三个方向位移的取放器， 用来在供料匣与第一载送装置间移载多个待测的记忆体IC；

第二移料装置，是设在机台上，其设有可作X、Y、Z三个方向位移的取放器， 用来在第二载送装置与收料匣间移载多个完成检测的记忆体IC；

中央处理器：是用来控制与整合各装置作动，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的收料 匣是搬移式收料匣，搬移式收料匣是设有可作X方向与Z方向位移的移载器，而 收纳容器则可收置多个不同等级的料盘，所述的测试装置的测试套座是装设在一 连结测试机的测试电路板上，并设有具有取放器的压接机构，用来取、放待测／ 完成检测的记忆体IC在各测试套座间，且下压待测的记忆体IC与测试套座的接 点相接触，另在多个测试套座的外部设有热测室机构。

3.一种记忆体IC检测分类机，其特征在于，其是包含有：

供料匣：是设在机台上，用来承置待测的记忆体IC；

收料匣：是设在机台上，用来承置完成检测的记忆体IC；

测试装置：是设在机台上，并设有多个测试套座，用来测试记忆体IC；

第一载送装置：是设在机台上，并设有第一载台用来在供料匣与测试装置间 载送多个待测的记忆体IC，而第一载台是可作X方向与Y方向的错位移动，以 供取料；

第二载送装置：是设在机台上，并设有第二载台用来在测试装置与收料匣间 载送多个完成检测的记忆体IC；

移料装置：是设在机台上，并设有取放器用来一次移载多个待测／完成检测 的记忆体IC在供料匣、第一、二载送装置与收料匣间；

中央处理器：是用来控制与整合各装置作动，以执行自动化作业。

4.根据权利要求3所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的测试 装置的测试套座是装设在一连结测试机的测试电路板上，并设有具有取放器的压 接机构，用来取、放待测／完成检测的记忆体IC在各测试套座间，且下压待测的 记忆体IC与测试套座的接点相接触，另在多个测试套座的外部设有热测室机构， 所述的第二载送装置的第二载台是可作X方向位移，所述的移料装置是包含第一 移料装置与第二移料装置，其中，所述的第一移料装置是设有可作X、Y、Z三个 方向位移的取放器，用来在供料匣与第一载送装置间移载多个待测的记忆体IC， 而第二移料装置是设有可作X、Y、Z三个方向位移的取放器，用来在第二载送装 置与收料匣间移载多个完成检测的记忆体IC。