[发明专利]位移传感器有效

专利信息
申请号: 200710136491.2 申请日: 2007-07-12
公开(公告)号: CN101105392A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 井上登纪子;饭田雄介;松永达也;大庭仁志 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 高龙鑫
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位移 传感器
【权利要求书】:

1.一种位移传感器,其特征在于,具有:

投光部件,其利用线状光束对计测对象物体进行照射;

拍摄部件,其从特定的角度进行拍摄,该特定角度是指,根据线状光束所照射的计测对象物体表面的高度,能够观察到线状光束像位置变动的角度;

处理部件,其基于拍摄图像取得在计测对象物体表面上沿着线状光束方向上的高度分布,并基于所得到的沿着线状光束方向的高度分布上的多个局部区域或者特征点,执行预先设定的计测处理,并执行用于设定该计测处理内容的设定处理,其中,该拍摄图像包含拍摄部件所取得的线状光束的像;

显示部件,其显示上述拍摄图像和用于进行设定的画面;

输入部件,其接收用于进行设定的输入;

输出部件,其输出上述计测处理的结果,

作为设定处理,在上述处理部件中进行以下设定:

在显示部件上显示拍摄图像,并在通过输入部件输入了确定指示时,将显示在显示部件上的拍摄图像设定为设定对象图像,

作为对上述设定对象图像的计测处理,同时显示以设定对象图像内所包含的线状光束的像中相对位于上方的线或点为基准而执行计测的选择项、和以相对位于下方的线或点为基准而执行计测的选择项,或者,同时显示以设定对象图像内所包含的线状光束的像中相对位于左侧的线或点为基准而执行计测的选择项、和以位于右侧的线或点为基准而执行计测的选择项,并通过输入部件接收对选择项的选择输入,由此区分要设定的计测处理种类是相对哪一基准线或基准点的计测处理,并对要设定的计测处理种类进行设定,

在上述设定对象图像内设定成为上述计测处理的对象的一个计测处理对象区域,

对于上述一个计测处理对象区域内所包含的线状光束的像,根据上述基准线或基准点的信息,对所设定的计测处理所需的局部区域或特征点自动进行设定。

2.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

作为对上述计测处理对象区域的设定处理,在上述处理部件中进行以下处理:在显示部件上显示上述设定对象图像的同时,将上述计测处理对象区域的候补区域重叠显示在上述设定对象图像上,并通过上述输入部件接收关于该候补区域的位置、形状或大小的变更指示,而且,如果有变更指示,则更新显示所变更的候补区域的位置、形状或大小,并且,通过上述输入部件接收用于确定计测处理对象区域的指示输入,并将此时的候补区域设定为计测对象区域。

3.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,在自动设定了用于所设定的计测处理的局部区域或用于计测处理的特征点之后,将上述局部区域或上述特征点重叠显示在上述设定对象图像上。

4.如权利要求3所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,在显示了上述局部区域或上述特征点之后,通过上述输入部件接收用于该局部区域的范围变更或用于该特征点的计算的参数的设定变更,而且,在有变更输入时,显示变更后的局部区域或根据变更后的参数计算出的特征点,并通过上述输入部件接收用于对局部区域或用于计算特征点的参数进行确定的指示输入,而且,将此时的局部区域或用于计算特征点的参数设定为用于计测处理的局部区域或者用于计算特征点的参数。

5.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,作为计测处理的选择项,同时显示相对基准高度的顶点高度计测和相对基准高度的底部深度计测,由此接收对选择项的选择。

6.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,作为计测处理的选择项,在画面内同时显示对于到上段为止的阶梯差相对基准高度的高度计测、和对于到下段为止的阶梯差相对基准高度的深度计测,由此接收对选择项的选择。

7.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,作为计测处理的选择项,在画面内同时显示对于左侧阶梯差的边缘位置计测和对于右侧阶梯差的边缘位置计测,由此接收对选择项的选择。

8.如权利要求1所述的位移传感器,其特征在于,

在上述处理部件中,作为计测处理的选择项,在画面内同时显示对于凸起形状的上段的左侧边缘和右侧边缘之间间隔的计测、和对于凹陷形状的左侧上段的右侧边缘和右侧上段的左侧边缘之间间隔的计测,由此接收对选择项的选择。

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