[发明专利]光拾取装置

说明书

技术领域

本发明涉及光拾取装置，尤其涉及一种适于在对层叠配置有多个记录层的光盘照射激光之际所使用的光拾取装置。

背景技术

在对CD(Compact Disc)或DVD(Digital Versatile Disc)等光盘进行信息记录再生的光盘驱动器中，配设有用于使激光会聚于光盘记录面上的光拾取装置。

图17表示光拾取装置的基本结构。图中，11为半导体激光器，12为衍射光栅，13为分光器，14为准直透镜，15为物镜，16为柱面透镜，17为光检测器。

从半导体激光器11输出的激光由衍射光栅分割为主光束(0级次衍射光)和两个副光束(±1级次衍射光)，入射到分光器13。透过分光器13的激光由准直透镜14变换为大致平行光，由物镜15分别聚光在光盘记录面上。

来自光盘的反射光逆着光盘入射时的光路行进，其一部分由分光器13反射。并且，由柱面透镜16导入像散之后，聚光在光检测器17的受光面上。此外，如图17所示的结构例中，作为聚焦误差的检测方法使用像散法。

图18A是表示光盘记录面上的3光束(主光束、副光束)的光斑配置的图。此外，该图表示在配置有沟槽(groove)和槽间平坦区(land)的光盘上3束光聚光后的状态。

如图18A所示，在记录再生动作时，主光束聚光在沟槽上，两个副光束分别聚光在夹持该沟槽的两侧的槽间平坦区上。此外，该光斑配置用来良好地进行基于后述的差动推挽法的跟踪误差检测。

图18B是表示光盘记录面上的主光束和两个副光束的光强度分布的图。

对光盘的记录仅由主光束来进行，两个副光束在跟踪误差信号和聚焦误差信号的生成中被使用。在此，主光束的光强度设定得比副光束的光强度高数级。这是为了在记录之时高效地利用来自半导体激光11的激光输出。即，对光盘的记录速度越是记录面上的激光的强度变高就越变为高速。因此，按照记录中使用的主光束的强度分配的量要高数级的方式，将来自半导体激光11的激光输出分配为主光束和副光束。

此外，主光束和副光束的光强度比由衍射光栅12的衍射效率(通常为光栅深度)来决定。通常，主光束的强度设为副光束的强度的10～18倍。该比率直接反映为光检测器17的受光面上的主光束和副光束的强度比。

图19A是说明基于差动推挽法的跟踪误差检测的原理的图。

图19A中，171、172、173是配置在光检测器17上的4分割传感器。主光束由4分割传感器171接收，两个副光束分别由4分割传感器172、173接收。此外，图19A示出了4分割传感器171、172、173上的主光束和副光束的聚光光斑。另外，在各光斑内示意表示有光强度分布，按照越是光强度高的部分越接近涂黑裂瓣(黒の塗りつぶし)的方式施加阴影。

如图19A那样由A～L表示4分割传感器171、172、173的各传感器部，当传感器部A～L的检测输出分别为PA～PL时，差动推挽信号(DPP)由以下式赋予。

DPP＝{(PA+PB)-(PC+PD)}-k1·{(PE+PF+PI+PJ)-(PG+PH+PK+PL)}

...(1)

在此，系数k1相当于副受光部的灵敏度倍率，按照主光束的检测输出与两个副光束的检测输出的合计相等的方式进行设定。

如上述图18A所示，当处于主光束聚光在信息道(沟槽)的中心位置的状态时，光检测器17的受光面上的主光束和两个副光束的光斑状态变为图19A的(a-2)的状态。此时，各光斑的光强度分布相对4分割传感器的一个分隔线成为对称。从而，当对上述式(1)进行运算时，差动推挽信号(DPP)就成为DPP＝0。

从上述图18A所示的状态，当主光束沿径向方向(纸面上下方向)变位时，光检测器17的受光面上的主光束和两个副光束的光斑状态变为图19A的(a-1)或(a-3)。此外，图19A的(a-1)及(a-3)分别表示主光束从信息道中心起在光盘外周方向及内周方向产生信息道偏离时的状态。

此时，受光面上的主光束和两个副光束的光强度分布成为偏向纸面左右方向的任意方的状态。将图19A的(a-1)和(a-3)进行比较而得知，各光斑内的光强度分布的偏斜方向根据主光束的信息道偏离方向而成为逆方向。另外，主光束和副光束中，光强度的偏斜方向相反。

从而，当进行上述式(1)的运算时，差动推挽信号(DPP)在图19A的(a-1)的状态中成为负值，在(a-3)的状态中成为正直。由此，基于差动推挽信号(DPP)，能检测光盘上的主光束的信息道偏离。