[发明专利]包括发光元件的显示板的老化补偿

说明书

技术领域

本发明涉及包括发光元件的显示板及其构建和操作方法，尤其涉及这种显示 板的发光元件的老化及其考虑了老化的操作方法。

背景技术

电子显示器可用透光或发光材料来产生图像或光。发光材料通常是磷光材料 或电致发光材料。示例是诸如在薄膜或厚膜电致发光显示器(EL显示器，例如由 Sharp、Planar、LiteArray或iFire/Westaim制造的薄膜TFEL显示器)或发光二极 管(LED)中应用的无机电致发光材料。另一类是分层沉积成包括小分子或聚合物 技术、或其中电致发光材料掺杂有磷光材料的磷光OLED的有机电致发光材料(例 如有机发光二极管或OLED材料)。再一类材料是磷光体，通常用于良好构建的阴 极射线管(CRT)或等离子显示器(PDP)、甚至用于像激光二极管投射显示器(其 中激光光束用于激发嵌入投射屏中的磷光体)的新兴技术。

存在两种基本类型的显示器：固定格式显示器，包括可单独寻址的“单元” 或“像素”的矩阵或排列，各个“单元”或“像素”在较小区域上产生或控制光； 以及不具有这种固定格式的显示器，诸如例如CRT显示器的扫描电子束显示器。 固定格式涉及显示的像素化，并且涉及将图像信号的各个部分分配给显示器中的特 定像素的事实。

拼接显示器包括由本身拼接成超模块的拼接阵列组成的模块。诸如拼接LED 或OLED显示器的模块或拼接发光显示器由组合成较大块的较小模块或显示板制 成。这些拼接发光显示器或显示器块被制造成可进一步与其它显示块组合以产生任 意大小和形状的显示器的完整单元。

显示板和显示块上的所有发光元件可从不同批次形成，可具有不同的生产日 期、不同的运行时间等等，即它们可具有不同的性质。在工厂中，即在实际使用之 前，所有发光元件产品都在受控环境下校准。然而，存在一个只能根据统计数据而 非实际数据补偿的参数，即发光元件使用时的老化或退化。老化差异发生是由于例 如各个发光元件的变化导通时间(即发光元件激活的时间量)以及给定显示区域内 的温度变化。

对于其中显示器由一组拼接显示板构成的大屏幕应用，由于其发光元件的变 化导通时间和/或温度差异，存在一个显示器以比另一显示器更快的速率老化的可 能性。通常，当制造拼接显示器时，对均匀图像进行校准。包括发光元件的显示器 中的挑战是使其光输出均匀，即，使得显示板上的所有发光元件甚至在使用过之后 都具有相同的亮度。

在EP 1 158 483中描述了对显示器中像素的老化进行校正的系统10。该系统 10包含固态显示设备12。系统10使用参考像素14来启动像素性能的测量，并使 反馈机构能响应于测量像素性能改变显示设备10的操作特征(参照图1)。参考像 素14的特征由测量电路18测量，而且由此产生的信息连接于分析电路20。该分 析电路20产生提供给控制电路22的反馈信号。控制电路22通过控制线24更改图 像显示器10的操作特征。

根据EP 1158 483，测量电路18监视参考像素14的性能。所测得的性能值通 过分析电路20与期望或所需性能进行比较。这些比较可基于装置12特征的现有知 识，或简单地与经验上给出良好性能的一些任意值进行比较。在任一情形中，一旦 确定需要更改装置12的性能，则分析电路20向反馈和控制机构发送信号，然后该 反馈和控制机构开始该更改。

然而，在根据EP 1 158 483的系统10中，测量电路18的误差导致校正或改 变中的误差。此外，测量性能值与之相比较的值并不是在与测量性能值相同的环境 下精确测量的，因此可能包括与可在与该性能值相同的环境下测量的参考值的较小 偏离。这可导致校正或变化中的误差。

发明内容

本发明的一个目的是提供良好的显示板和用于确定该显示板中发光元件老化 的好方法。

以上目的通过根据本发明的方法和设备实现。

在第一方面中，本发明提供包括可寻址发光元件阵列和用图像数据驱动发光 元件的驱动装置的显示板。该显示板还包括老化确定装置，该装置包括：

至少一个参考发光元件，驱动装置适于用校准数据驱动至少一个参考发光元 件；

光测量装置，用于测量由参考发光元件发射的光，并用于测量表示由发光元 件所发射光的光；以及