[发明专利]内存测试装置及内存测试方法

说明书

【技术领域】

本发明提供一种内存测试装置及内存测试方法，特别是一种高效且准确的内存测试装置及内存测试方法。

【背景技术】

内核占用内存的区域是随机、不连续的；相应地，待测内存的区域也是随机、不连续的。目前的测试方法，是在待测内存的区域随机调用一测试页框，然后对该测试页框下的内存进行测试；待该测试页框的测试完成以后，再随机调用一测试页框并进行测试；内存的测试需不断地重复上述的步骤。

但是，各测试页框之间不存在连续性，便会使得有些内存区域被重复测试，而有些内存区域却未被测试到，从而导致测试结果不够准确。若保证尽可能多的内存区域被测试，需采用长时间的测试，但测试效率较低。

【发明内容】

本发明的主要目的在于提供一种高效且准确的内存测试装置及内存测试方法。

为达到以上目的，本发明提供一种内存测试装置，适用于测试一内存，且该内存测试装置包括一调整模块，该调整模块耦合该内存，且该调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；该调整模块耦合一构建模块，且该构建模块为待测内存模块构建字符设备；该构建模块耦合一测试模块，且该测试模块依序对字符设备进行测试。

本发明提供一种内存测试方法，适用于测试一内存，并通过一内存测试装置以达成，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；且该内存测试方法包括以下步骤：调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；构建模块为待测内存模块构建字符设备；测试模块依序对字符设备进行测试。

相较于现有技术，本发明内存测试装置及内存测试方法可令待测内存模块的物理地址连续，且可依序测试，以避免长时间的重复测试以及内存被漏测，从而保证内存测试的高效性且准确性。

【附图说明】

图1是本发明内存测试装置的原理方框图。

图2是本发明内存测试方法的流程图。

【具体实施方式】

请参阅图1所示，本发明提供一种内存测试装置100，适用于测试一内存200，且该内存测试装置100包括一调整模块30，该调整模块30耦合该内存200，且该调整模块30将内存200划分成一内核占用模块201及一待测内存模块202，其中，该待测内存模块202的物理地址连续；该调整模块30耦合一构建模块40，且该构建模块40为待测内存模块202构建字符设备；该构建模块40耦合一测试模块50，且该测试模块50依序对字符设备进行测试。

请参阅图1及图2所示，该内存测试方法通过图1所示的内存测试装置100达成，且该内存测试方法包括以下步骤：

步骤301：调整模块30将内存200划分成一内核占用模块201及一待测内存模块202，其中，该待测内存模块202的物理地址连续；

步骤302：构建模块40为待测内存模块202构建字符设备；

步骤303：测试模块50依序对字符设备进行测试。

本发明内存测试装置100及内存测试方法可令待测内存模块202的物理地址连续，且可依序测试，可避免长时间的重复测试以及内存200被漏测，从而保证内存200测试的高效性且准确性。