[发明专利]数据读出方法、数据读出设备和光盘

说明书

技术领域

本发明涉及数据读出方法、数据读出设备和光盘，具体来说，涉及用于 读出记录在光盘中数据的数据读出方法和数据读出设备、以及在数据读出设 备中使用的光盘。

背景技术

在相关技术中，当读取记录在诸如CD(Compact Disc，压缩盘)、DVD (Digital Versatile Disc，数字多功能盘)、蓝光盘、和HD-DVD的只读光盘 中的数据时，读出功率可以是在检测电路的动态范围内的任意值，并且不存 在对仅由反射层形成的读出层的损害。

另外，在相关技术中，当读取记录在诸如CD-R(CD-可读)、CD-RW (CD-可重写)、DVD-R(DVD-可读)、DVD-RW(DVD-可重写)、DVD+R (DVD+可读)、DVD+RW(DVD+可重写)、和DVD-RAM的可写入光盘中 的数据时，要求使用充分低的读出功率以免消除或者破坏记录层上的标记系 列(mark series)。

此外，在相关技术中，对于该两种类型的光盘中的任何一种，通常可以 通过读出设备任意地调整读出功率。

在最近几年中并且正在继续地需要具有大容量的光盘。迄今为止，已经 提出了各种方法来实现大容量光盘，例如，这些方法中的一种是超分辨率读 出方法。在该超分辨率读出方法中，在光盘上形成比光学系统的衍射极限还 短的标记(mark)和间隔(space)以增加光盘的记录密度和容量。另外，高 功率(high power)的光束被聚集到由相变(phase-change)材料制成的读出 层(这个读出层被称为“超分辨率读出层”)以增加该读出层的光聚集区域部 分的温度，从而改变这个区域的光学特性(光学常数)。因此，可以读出超 过衍射极限的数据。当前，有这样的超分辨率读出能力的光盘正处于被投入 实际应用的过程中。

下面，为了方便，将不超过衍射极限的记录密度称为“通常密度”，并且 将以通常密度记录的数据的读出称为“通常读出”。

下面，说明具有超分辨率读出能力的光盘。

图9A至图9C是示出具有超分辨率读出能力的光盘的配置的例子的示 意性剖面图。

在图9A中示出的光盘具有堆叠层结构，该堆叠层结构包括保护层和在 基底上的读出层。例如，该保护层由ZnS-SiO₂构成，而该读出层由如 AgInSbTe的相变材料构成。

在图9B中示出的光盘公开在“Jpn.J.Appl.Phys.，42，pp 995-996(2003)”(在 下文中被称为“参考1”)，该光盘具有包括保护层、读出层、和在基底上的记 录层的堆叠层结构。例如，该保护层由ZnS-SiO₂构成，该读出层由GeSbTe 构成，而该记录层由AgO_x构成。

在图9C中示出的光盘公开在“ISOM Technical Digest，pp 66-67(2004)” (在下文中被称为“参考2”)，该光盘具有包括保护层、读出层、和在基底上 的记录层的堆叠层结构。例如，该保护层由ZnS-SiO₂构成，该读出层由 GeSbTe构成，而该记录层由PtO_x或W-Si构成。

激光束从基底侧或者与基底相对的侧入射在图9A至图9C中的一个所 示的光盘上，以便执行数据记录和数据超分辨率读出。在数据记录操作期间， 激光束以记录功率照射在光盘上，因此在记录层形成记录标记。在记录层上 形成标记的机制取决于介质的材料。例如，对于在图9A中示出的光盘的 AgInSbTe层，通过形状改变来形成记录标记；对于在图9B和图9C中示出 的光盘的AgO_x层或者PtO_x层，通过生成金属微粒和磁泡来形成记录标记； 对于在图9C中示出的光盘的W-Si层，通过Si和W之间的化学反应来形成 记录标记。因为记录标记只形成在激光光点(spot)内被局部加热的区域， 可以形成比光学系统的衍射极限更短的记录标记。

除了上面的可记录光盘之外，还提出了只读超分辨率读出光盘，通过在 ROM类型的基底上形成上述的读出层来装配该只读超分辨率光盘，该ROM 类型的基底是使用通过深度UV(紫外线)曝光或者EB(电子束)曝光的原版 盘制作获得的模子(stamper)模压形成(mold)的。