[发明专利]可自动化进行电子元件外观检测的装置

权利要求书

1.一种可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在于，其包含：

一供料匣：其容纳至少一承置有所述的待测电子元件的料盘；

一检测区：其设有检测器，以对所述的料盘上的各电子元件进行外观检测， 并将检测的信号传输至一中央控制器；

一良品交换区：其承放承置有一完测电子元件的料盘，以供交换承置为良品 的电子元件；

一次级品交换区：其承放承置有一完测电子元件的料盘，以供交换承置为次 级品的电子元件；

移载器：其从供料匣移载承置有待测电子元件的料盘至所述的检测区进行外 观检测，并在完成检测后，将料盘移载至所述的良品交换区或所述的次级品交换 区；

一换料器：其移动在所述的良品交换区和所述的次级品交换区之间，并依据 检测结果将所述的良品交换区料盘上的电子元件与所述的次级品交换区料盘上的 电子元件进行交换移置。

2.根据权利要求1所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第一暂置区，以供所述的移载器将承置有待测电子元件的 料盘移载至所述的第一暂置区。

3.根据权利要求2所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第二暂置区，以供所述的移载器将承置有待测电子元件的 料盘移载至所述的第二暂置区。

4.根据权利要求3所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第三暂置区，以供所述的移载器将承置有完测电子元件的 料盘移载至所述的第三暂置区。

5.根据权利要求4所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第四暂置区，以供所述的移载器将承置有完测电子元件的 料盘移载至所述的第四暂置区。

6.根据权利要求5所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第五暂置区，所述的第五暂置区设在所述的良品交换区的 后侧方，以供所述的移载器将承置有完测电子元件的料盘移载至所述的第五暂置 区。

7.根据权利要求6所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一第六暂置区，所述的第六暂置区设在所述的次级品交换区 的后侧方，以供所述的移载器将承置有完测电子元件的料盘载至所述的第六暂置 区。

8.根据权利要求1所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：其进一步包含有一为CCD的检查器，所述的CCD的检查器设在所述的良品 交换区及所述的次级品交换区之间，以检知所述换料器上的电子元件的角度位置， 或进行背面的检测。

9.根据权利要求1所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征在 于：所述的换料器作第一或第二或第三方向位移而移动在所述的良品交换区及所 述的次级品交换区之间，以将电子元件交换移置。

10.根据权利要求1所述的可自动化进行电子元件外观检测的装置，其特征 在于：其进一步包含有一不良品收料区，所述的不良品收料区设在所述的次级品 交换区另侧，以供收纳完全损坏的不良品。