[发明专利]密封测试方法,试样以及试验台无效

专利信息
申请号: 200710141697.4 申请日: 2007-08-21
公开(公告)号: CN101140195A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: J·德莱姆;N·勒菲弗;S·普雷托-帕雷特德拉罗什福迪尔;C·于翁德凯尔马戴克 申请(专利权)人: 气体运输技术公司
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26;G01N15/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 刘志平
地址: 法国圣雷米*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 密封 测试 方法 试样 以及 试验台
【说明书】:

技术领域

本发明涉及测试试样的密封的方法,还涉及该方法应用的试样和试验台。

发明背景

法国专利申请2724623提出了一种结合在支撑结构中的热绝缘密封容器,尤其在船的支撑结构中。容器的壁具有,按照从容器的内部朝向支撑结构的顺序,与包含在容器中的产品接触的主密封阻挡层,主热绝缘阻挡层,第二密封阻挡层和第二热绝缘阻挡层。第二密封阻挡层和第二密封绝缘阻挡层基本上由固定到支撑结构上的一组预制板组成,每个板首先,由带有热绝缘层的第一刚性板形成,该板结合该绝缘层以形成第二热绝缘阻挡层;其次,由大体上粘接到上述第二热绝缘阻挡层的热绝缘层的整个表面上的密封薄板形成,所述薄板由复合材料组成,其两个外部加强层是玻璃纤维织物并且其中间层是0.11毫米厚度的细变形铝薄膜,所述密封薄板形成第二密封阻挡层组分;第三,由第二热绝缘层形成,其部分覆盖所述薄板并且粘接到其上;并且第四,由覆盖第二热绝缘层的第二刚性板形成,该刚性板粘接此层以形成主热绝缘阻挡层组分。

在两个相邻板之间的区域被填充,以便于使得第二密封阻挡层连续。更具体的,为了提供第二密封阻挡层的连续性,两个相邻板的相邻外周边缘被覆盖密封板条,并且与板之间的连接处一致,还具有三层,所述板条粘接到两个相邻的外周边缘并且利用其金属薄膜使得密封持续。

第二密封阻挡层的密封质量取决于一些因素,特别是用于板的制造以及用于形成两个板之间的结合处以及粘接密封处的密封板的质量。

为了确保充分密封,存在一种已知的在密封板的密封试样上进行密封试验的方法。图1和2示出了用于根据现有技术实施密封试样方法的试验台2和试验试样1。

该试样1包括设置在诸如玻璃纤维织物的两个加强层之间的密封薄膜,例如细的铝薄膜。在该说明书的下面部分中,由密封薄膜和加强层形成的组件称为“薄板”。试样1的薄板具有连接表面5,其围绕被测试的区域4。该测试方法意图使用试验台2对试样1的密封进行测试。

在图6中所示的改变中,试样1的薄板在被测试的区域4中具有开口11。该开口11由膜片12覆盖,该膜片12由类似于薄板材料的三层组成。膜片12全部围绕开口11粘接到薄板上。这使得测试在膜片12和薄板之间的粘接层13的密封质量是可能的。

试验台2包括具有开口10的真空室3。真空泵8和压力传感器9连接到真空室3上。试验台2具有连接表面6,其围绕真空室3的开口10。

已知的测试方法包括试样1固定到具有粘接结合处7的试验台2上,其中该粘接结合处7以大体上密封的方式连接该试样1的连接表面5到试验台2的连接表面6上。

然后真空泵8运行以减少在真空室3中的压力到特定的水平。然后停止真空泵8的运行,压力传感器9用于确定在真空泵3中的压力上升曲线。这是在压力下的第一测试行为。

然后试样1受到第一热冲击,包括突然大量降低试样1的温度,通过倾泻一层液态氮在其上。连接到试样1的试验台2的温度同时减少。液态氮自然蒸发,并且操作者等待试样1和试验台2返回到环境温度。

然后实施在压力下的第二测试行为。通过随后替换热冲击和在压力下的测试行为,可能评估试样1的密封的初始程度,以及在热冲击的影响下此密封程度的改变。

此已知的方法具有多个缺点。在第一位置,测量的精度受到由粘性结合处7形成的有缺陷的密封影响的限制,特别是在试样1的加强层由具有多孔性的纤维材料制成的情况下。测试的可再现性还受到限制,因为需要大量的手工操作,特别是固定试样1到试验台2上。该大量的操作不仅增加了过程的持续时间,特别是由于有必要等待粘性结合处7的聚合,而且增加了过程的成本。过程的持续时间还受到需要相对长的时间产生的热冲击的持续时间的影响。由于试验台受到热冲击,其试图变得逐渐退化。在测试中此退化的影响难以评估并且不能从试样本身的退化中区分。而且,在过程的末端上试样1的移去必然伴有其的损坏,使得不可能进行随后的反向试验。在过程的末端,在另一个试样进行测试之前,试验台必须清洁以除去粘性结合处的残余物。

文献US4979390,BE653074,US4409818,FR2172321,GB895063,US2108179和US4246775描述了不同的密封试验设备和方法。如一般的规律,密封垫圈提供在试验设备上,以便于通过在试验设备的密封垫圈和待测试的元件之间的接触形成大体上密封的连接。

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