[发明专利]用于电化学加工的电极无效
申请号: | 200710141792.4 | 申请日: | 2007-08-24 |
公开(公告)号: | CN101372058A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | A·帕尔霍武斯基;L·M·德沃斯津;R·A·艾迪;R·M·佩尔斯特林 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | B23H3/04 | 分类号: | B23H3/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 徐迅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电化学 加工 电极 | ||
1.一种电极,它包括形成电极表面的介电层、以及包括嵌埋在所述电极表面下的金属的有源区,
其中,所述介电层包括凹槽图案,所述凹槽图案包含从电极表面延伸到有源区上表面的凹槽,其中凹槽图案所包含的凹槽的特征宽度等于或小于25微米,
且其中,所述凹槽具有V形结构,该V形结构在介电层中的有源区处具有宽的开口,在电极表面具有窄的开口。
2.如权利要求1所述的电极,其特征在于,所述介电层包含SiNx、SiO2或苯并环丁烯。
3.如权利要求1所述的电极,其特征在于,所述凹槽图案包括特征宽度等于或小于12微米的凹槽。
4.如权利要求1所述的电极,其特征在于,所述介电层的厚度范围为1-5微米。
5.一种制造电极的方法,该方法包括:
在金属表面上沉积介电层;
在介电层上沉积光刻胶层;
在光刻胶层上印刷凹槽图案;
通过蚀刻或物理化学法除去介电的光刻胶层的一些部分,在介电层中形成凹槽图案,其中所述凹槽图案包含特征宽度等于或小于25微米的凹槽,所述凹槽具有V形结构,该V形结构在介电层表面处具有窄的开口;
除去光刻胶层;以及
将金属沉积在介电层表面以下的凹槽中,以制造电极。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述金属是Cu。
7.一种施加电极的方法,所述方法包括:
使电极与工件接触,从而在工件中形成凹槽图案,其中所述电极和工件之间的间隙等于或小于5微米,
其中,所述电极包含凹槽图案,所述凹槽图案包含特征宽度等于或小于25微米的凹槽,电极中的所述凹槽具有V形结构,该V形结构在邻近工件的电极的表面处具有窄的开口,在远离工件处具有宽的开口,其中电极中的凹槽在宽的开口处包含金属,
且其中金属位于电极表面之下。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,在工件中形成凹槽图案时不发生电弧放电。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述间隙基本为零。
10.如权利要求9所述的方法,还包括将能量从电极会聚到工件,以防止工件中凹槽图案的过烧。
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