[发明专利]检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种检测装置，适于检测一液晶面板的一第一偏光片的一光吸收轴的角度，而该液晶面板更包括一第一基板、一第二基板与一液晶层，其中该液晶层配置于该第一基板与该第二基板之间，而该第一偏光片配置于该第一基板上，且该第一偏光片与该液晶层分别位于该第一基板的两侧，其特征在于，该检测装置包括：

一光源，配置于该液晶面板的一侧，且该液晶面板位于该光源的光径；

一可旋转的检测偏光片，配置于该液晶面板的另一侧，并位于该光源的光径，且该第一偏光片位于该第一基板与该可旋转的检测偏光片之间；以及

一光检测器，位于该光源的光径，且该光检测器与该第一偏光片分别位于该可旋转的检测偏光片的两侧。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括一载台，用于承载该液晶面板。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括一步进马达，控制该可旋转的检测偏光片的旋转角度。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括一记录装置，记录该可旋转的检测偏光片的旋转角度。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该光源为一激光光源。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该光检测器为一电荷耦合元件光检测器。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该光检测器为一互补式金属氧化物半导体光检测器。

8.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该光检测器为一光电二极管光检测器。

9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该液晶面板还包括一第二偏光片，配置于该第二基板上，并位于该第二基板与该光源之间。

10.一种检测方法，适于检测一液晶面板的一第一偏光片的一光吸收轴的角度，而该液晶面板还包括一第一基板、一第二基板与一液晶层，其中该液晶层配置于该第一基板与该第二基板之间，而该第一偏光片配置于该第一基板上，且该第一偏光片与该液晶层分别位于该第一基板的两侧，其特征在于，该检测方法包括：

提供一如权利要求1所述的检测装置，并将该液晶面板置于该光源与该可旋转的检测偏光片之间，且该第一偏光片位于该第一基板与该可旋转的检测偏光片之间；

使用该光源照射该液晶面板，并以该光检测器量测光强度；以及

调整该可旋转的检测偏光片的光吸收轴的角度，其中当该光检测器所量测到的光强度达到最大值时，该可旋转的检测偏光片的光吸收轴的角度代表该第一偏光片的该光吸收轴的角度。