[发明专利]存储器时序测量电路与其测试方法

权利要求书

1.一种存储器芯片，包括：

一存储器子系统，用于存储数据，其包括多个接脚；

一时钟树，将一测试信号源同步地送出；以及

一时序测量电路，接收由该时钟树所送出的该测试信号源，该时序测量电路将该测试信号源进行各别延迟以产生多个延迟后测试信号，所述延迟后测试信号送至该存储器子系统的所述接脚，藉由调整所述延迟后测试信号源的时序来测试该存储器子系统的存储器交流时序参数。

2.如权利要求1所述的存储器芯片，更包括：

一控制电路，用于控制该时序测量电路的操作模式与所述延迟后测试信号的延迟量。

3.如权利要求1所述的存储器芯片，更包括：

一分频器，接收并分频该时序测量电路所输出的一环形振荡器输出信号。

4.如权利要求3所述的存储器芯片，其中，当该时序测量电路包括多个时序测量单元时，每一个时序测量单元输出一个环形振荡器输出信号，所述时序测量电路的多个环形振荡器输出信号耦接至该分频器，该存储器芯片更包括：

一多路复用器，耦接至该分频器，用以选择所述时序测量电路的所述环形振荡器输出信号之一。

5.如权利要求1所述的存储器芯片，更包括：

一输出数据寄存器，接收该存储器子系统的一输出数据。

6.如权利要求4所述的存储器芯片，其中，各时序测量单元耦接至该存储器子系统的所述接脚之一。

7.如权利要求6所述的存储器芯片，其中，各时序测量单元包括：

一开关，根据一开关控制信号而决定其操作模式；

多个串接的延迟电路，各延迟电路的一输入端耦接至该开关的一输出端或前一级延迟电路的一输出端，所述延迟电路的最后一级输出该环形振荡器输出信号；以及

一多路复用器，接收所述延迟电路的多个输出，并产生该延迟后测试信号至该存储器子系统的该对应接脚。

8.一种存储器芯片的时序测量电路，该存储器芯片包括：一存储器子系统与将一测试信号源同步地送出的一时钟树；该时序测量电路包括：

多个时序测量单元，各时序测量单元耦接至该存储器子系统的多个接脚之一以测量该存储器子系统的存储器参数；各时序测量单元包括：

一开关，具有：一控制端，接收一外部开关控制信号，一第一端，接收该时钟树所送出的该测试信号源，一第二端，接收一外部数据，一第三端，以及一第四端；

多个串接的延迟电路，所述延迟电路的一第一级延迟电路的一输入端耦接至该开关的该第四端，所述延迟电路的最后一级输出一环形振荡器输出信号，该环形振荡器输出信号指示该时序测量电路的一分辨率；以及

一多路复用器，具有：一控制端，接收一外部延迟控制信号；多个输入端，分别耦接至所述延迟电路的多个输出端；以及一输出端，耦接至该存储器子系统的该对应接脚；

其中，该外部开关控制信号控制该时序测量单元的操作模式，以及该外部延迟控制信号控制该测试信号源与该多路复用器的该输出信号间的一时间差。

9.一种存储器的测试方法，该方法包括：

同步地送出一测试信号；

分别延迟该测试信号以分别产生多个延迟后测试信号，以输入至该存储器的多个接脚；以及

检查该存储器所输出的一输出数据是否正确并对输入至该存储器的所述接脚的所述延迟后测试信号进行时序调整，以测量该存储器的一交流时序参数。

10.如权利要求9所述的方法，更包括：

响应于一外部控制信号，将一外部测试数据送至该存储器，以进行功能测试。

11.如权利要求10所述的方法，更包括：

响应于该外部控制信号，令该存储器内的一时序测量单元进行一环形振荡，以测量一延迟分辨率。

12.如权利要求9所述的方法，更包括：

令输入至该存储器的一地址接脚的该延迟后测试信号领先于输入至该存储器的一时钟接脚的该延迟后测试信号，以测量一设定时间参数。

13.如权利要求9所述的方法，更包括：

令输入至该存储器的一地址接脚的该延迟后测试信号落后于输入至该存储器的一时钟接脚的该延迟后测试信号，以测量一保持时间参数。