[发明专利]孔内表面的光学检测方法无效

专利信息
申请号: 200710142856.2 申请日: 2007-08-01
公开(公告)号: CN101109716A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 徐春广;肖定国;冯忠伟;朱文娟;郝娟;周世圆 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/954 分类号: G01N21/954
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所 代理人: 韩登营;李殿健
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 表面 光学 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种孔内表面的光学检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

a.将照明光源放入孔内并使其发光照明孔内周面;

b.用与孔同轴安装的成像装置拾取照明光源照射到孔内壁上反射回来的光;

c.使照明光源和成像装置沿孔轴线同步移动,并对由成像装置识别到的信号进行处理,获得孔内表面展开图像。

2.如权利要求1所述的孔内表面的光学检测方法,其特征在于,

还具有如下步骤:用定心机构将照明光源和成像装置定位在孔内,照明光源和成像装置同轴。

3.如权利要求1所述的孔内表面的光学检测方法,其特征在于,

还具有如下步骤:由伺服电机驱动照明光源和成像装置沿孔轴线匀速运动,成像装置进行均匀采样,获取一系列不同轴向位置的孔内表面展开图像,相邻两图像之间重叠部分沿孔轴线距离大于等于0。

4.如权利要求3所述的孔内表面的光学检测方法,其特征在于,

还具有如下步骤:顺序读取多幅图像,保证前一幅图像和后一幅图像之间存在重叠区域,确定前后两幅图像的拼接方式,形成一幅新图像,循环此操作直到将所有的图像拼接形成一幅完整的图像。

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