[发明专利]焦点检测装置和其控制方法有效
申请号: | 200710143708.2 | 申请日: | 2007-07-30 |
公开(公告)号: | CN101115142A | 公开(公告)日: | 2008-01-30 |
发明(设计)人: | 中泽功 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/232 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 焦点 检测 装置 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种通过镜头检测被摄体图像的成像状态的焦点检测装置以及其控制方法。
背景技术
传统上,已知基于所谓的相位差检测方案的焦点检测技术,该检测技术通过使用穿过照相机等的拍摄镜头的光束进行焦点检测。该技术逐年所取得的各种改进和进步获得了使使用者感到方便的功能。一种改进就是增加焦点检测视野的数量。即与焦点检测视野相关的技术起初被设计成聚焦在视野的一个中心点上,得到改进以增加焦点检测视野的数量并且也聚焦在周围点上。例如,日本专利第06-001189号公报公开了一种焦点检测装置,该装置通过以交错或矩阵图案排列许多测距视野获得了高测距视野密度。该装置可以在更适合被摄体的位置聚焦拍摄镜头。日本特开平第11-014896号公报公开了一种用来从相似的视点高密度均一地分布焦点检测视野的焦点检测装置。
为了与现有技术相比增加焦点检测视野的数量,需要减小各传感器阵列的大小并增加传感器阵列的数量。这导致电路尺寸和光电转换元件的尺寸更大、成本更高等不利条件。
另外,减小传感器阵列大小导致制造过程更加困难、成本更高等不利条件。而且,由于每像素面积减小,低亮度性能恶化且行阵列长度减小。这导致例如另一个不利条件,即减小了可以测量的离焦量。
发明内容
本发明实现一种能够在不造成上述任何不利条件的情况下增加焦点检测视野的数量的焦点检测技术。
为了达到上述目的,根据本发明,提供一种焦点检测装置,包括:焦点检测部件,用于使用光电转换元件来检测对应于焦点检测视野的一对被摄体图像之间的相对位置关系;以及其中,焦点检测部件可以在操作的第一模式和操作的第二模式之间切换,在第一模式中通过使用光电转换元件的第一数量的区域来检测与焦点检测视野相对应的被摄体图像,在第二模式中通过使用光电转换元件的与第一数量不同的第二数量的区域来检测与焦点检测视野相对应的被摄体图像。
还提供了一种焦点检测方法,包括:使用光电转换元件来检测对应于焦点检测视野的一对被摄体图像之间的相对位置关系;在第一模式和第二模式之间切换,在第一模式中通过使用光电转换元件的第一数量的区域来检测与焦点检测视野相对应的被摄体图像,在第二模式中通过使用光电转换元件的与第一数量不同的第二数量的区域来检测与焦点检测视野相对应的被摄体图像。
本发明的实施例可以在不增加传感器阵列的数量、不增大光电转换元件的尺寸或降低焦点检测性能或低亮度性能的情况下增加焦点检测视野的数量,从而获得具有高密度的焦点检测视野。
通过以下(参考附图)对典型实施例的说明,本发明的其它特征将显而易见。
附图说明
图1是应用本发明的实施例的主要部分的示意图;
图2是构成图1中的焦点检测装置的主要组件的示意图;
图3是图1的光圈的平面图;
图4是光电转换元件的平面图;
图5是当通过照相机的取景器查看时的焦点检测视野排列的示意图;
图6是在先前考虑的焦点检测装置中投影在光电转换元件的区域传感器上的焦点检测视野的示意图;
图7是在另一个先前考虑的焦点检测装置中构成中间焦点检测视野的行阵列的扩展示意图;
图8是图7中所示的多个行阵列排列在区域传感器的整个表面上的示意图;
图9是在图6的焦点检测装置上构成中间焦点检测视野的行阵列的扩展示意图;
图10是本发明实施例中的焦点检测视野的示意图;
图11是与图10实施例中的中间焦点检测视野相对应的行阵列的扩展示意图;
图12是示出图10实施例中的行阵列的AGC范围的示意图;
图13是示出与图11中的焦点检测视野相对应的计算范围和AGC范围的扩展示意图;
图14A和14B是用于说明可选焦点检测操作的示意扩展图,在可选焦点检测操作中使用两个行阵列进行给定焦点检测视野的焦点检测;以及
图15是用于说明本发明实施例中的焦点检测操作的流程图。
具体实施方式
以下参考附图详细说明用于实施本发明的最佳模式。
注意:以下说明的实施例仅是本发明的实施例子,可以在需要时根据应用本发明的装置的结构和各种情况来修改或改变。本发明不限于以下实施例。
图1是示出将本发明的焦点检测装置应用到照相机等光学装置的实施例的主要部分的示意图。图2是示出图1中的焦点检测装置的主要组件的示意图。
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