[发明专利]存储器数据校验方法、装置、可编程逻辑器件及系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及存储器数据校验方法、装置、可编程逻辑器件及系统。

背景技术

在嵌入式系统的电路板上通常都有一片CPU(控制器)，通过软件的执行来完成业务处理、设备控制、系统管理等功能。为了保证电路板上电的时候能自动运行、在电路板掉电的时候保存的软件代码和重要数据内容不会丢失，软件代码一般保存在非易失性的存储器中，例如EPROM(ErasableProgrammable Read Only Memory可擦除、可编程的只读存储器)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory电可擦除、可编程的只读存储器)等。

电路板上的存储器一般分为两个部分，第一个部分保存的是CPU上电后就开始执行的指令，可以用一片存储器来保存，类似于个人计算机主板上的BIOS，一般不需要更改其中的内容；第二个部分保存的是一些重要的数据和应用程序，一般可以根据需要进行更新，而且电路板从第一个部分启动后会接着跳转到第二个部分继续执行，并从中读取程序运行所需的数据。如果第二个部分中保存的程序或数据发生差错，CPU会因为指令出错而死机，或者因为数据出错而导致程序执行异常，所以必须采取某种措施来保证数据的正确性，当第二个部分中的数据出错时能够检测出来并做出合适的处理。

目前主要采用的手段是将存储器校验出厂前通过专门的测试装备进行检测。离线校验的方法为读取存储器中存储的在写入代码或数据的时候同时写入的校验码，先通过校验码确认存储器中存储的数据无误之后再使用它们。但是存储器在电路板工作的过程中可能会由于温度应力、电应力、器件老化等原因造成某些存储单元失效，但是无法即时校验出来，不能够对指定的存储器地址空间进行现场运行校验；容易造成程序运行出错，而且难以定位原因；依然会导致当电路板启动或正在运行的过程中，CPU执行指令时因为指令出错而死机，或者因为数据出错而导致程序执行异常。因此现有技术无法实现在电路板需要对存储器中的数据检测时，能够自主的进行检测。

发明内容

本发明提供存储器数据校验的方法、存储器数据校验装置、存储器数据校验系统、可编程逻辑器件及包含该可编程逻辑器件的存储器数据校验系统。

本发明提供存储器数据校验的方法，该方法包括：

接收校验命令，该命令包含起始地址、结束地址、启动标识，并将所述校验命令存储，所述启动标识用于标识在存储了起始地址和结束地址后，开始数据校验的时间；根据校验命令中的起始地址、结束地址及启动标识对对存储器中的数据读取并校验；校验完成后将校验结果保存；在校验过程中收到控制器发送的读或写存储器的命令，则暂停对存储器数据读取、校验，并存储当前读取、校验的存储器地址，将所述读或写存储器的命令发送给存储器；根据存储的当前读取、校验的存储器地址恢复对存储器数据读取、校验。

本发明提供一种存储器数据校验装置，该装置包括：

读写控制单元，用于接收校验命令，该命令包含起始地址、结束地址、启动标识；将校验命令中的开始地址保存在起始地址寄存器，结束地址保存在结束地址寄存器，及将启动标识保存在命令寄存器；根据校验命令中的起始地址、结束地址及启动标识对存储器数据读取并校验，校验完成后将校验结果保存在检测结果寄存器中，所述启动标识用于标识在存储了起始地址和结束地址后，开始数据校验的时间；起始地址寄存器，用于存储校验命令中的开始地址；结束地址寄存器，用于存储校验命令中的结束地址；命令寄存器，用于存储校验命令中的启动标识；检测结果寄存器，用于存储校验结果；当前校验地址寄存器，用于存储检验过程中的存储器的地址；读写控制单元在校验过程中，收到控制器发送的读或写存储器的命令时，暂停对存储器数据读取、校验，并将当前读取、校验的存储器地址存储在当前校验地址寄存器中，将所述读或写存储器的命令发送给存储器后，从校验地址寄存器获取当前读取、校验的存储器地址，并恢复对存储器数据读取、校验，在校验完成后将校验结果保存在检测结果寄存器中。

本发明提供存储器数据校验系统，其特征在于，系统包括：