[发明专利]桥接SAS信道测试系统及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种一种桥接SAS信道测试系统及其方法，特别是涉及一种将热插拔终端装置桥接至SAS信道的测试系统及其方法。

背景技术

SAS(Serial Attached SCSI)接口是新一代的SCSI(Small Computer SmallInterface，SCSI)接口。SAS是并行SCSI接口(Parallel SCSI)之后所开发出的全新接口。因此SAS接口可以提供多点介接、并且数据可以6Gb/s速度双向传输。此外，SAS接口通过缩小连接线的设计，而有减少系统内部空间的优点，而且SAS接口还可向下兼容，例如SATA(Serial ATA)硬盘。

SAS信道是利用低电压差动信号(Low Voltage Difference Signal，LVDS)进行数据传输的，根据规范每对低电压差动线路上可以采用1.5Gbps和3.0Gbps的数据传输速率。相比于其它接口，LVDS的优点包括(1)可用于低电压电源供应的环境、(2)产生的信号具低噪声、(3)具有高抗噪声能力、(4)强健的传输信号能力、(5)易于整合入系统芯片中。SAS信道所使用的传接收电压分别TX为800~1600mV、RX为275~1600mV。每一个SAS的物理连接器接口最大可以提供四个物理连接(physical link)。换句话说，每一个物理连接就是一个SAS硬盘。在每一个物理连接中均包括两对差分信号线(Tx+/-和Rx+/-，即四条传输电缆)。请参考图1所示，其为SAS物理连接器接口所提供物理连接示意图。

图1中每一行所代表的是不同的物理连接，而每一列所代表的是不同的Tx与Rx组。举例来说，当第一物理连接(请参考虚线范围)与SAS物理连接器接口相连结，则第一物理连接会使用SAS物理连接器接口的Rx 0+、Rx 0-、Tx 0+与Tx 0-。若SAS物理连接器接口同时连接第一与第二物理连接的话，则第一物理连接则上述所示，而第二物理连接则使用Rx 1+、Rx 1-、Tx 1+与Tx 1-。若有其它物理连接连结于SAS物理连接器接口则依此类推。

请参考图2所示，其为公知SAS信道的测试系统示意图。公知的SAS信道测试方法是将SAS硬盘230连接到控制端210上，控制端210中的检测程序对SAS硬盘230存取操作，通过对SAS硬盘230的读写来测试经过SAS接口221所对应的信道的这些测试信号是否完整。请参考图3所示，其为公知SAS信道的检测流程图。首先，将测试用SAS硬盘安装至SAS背板(步骤S310)。接下来，启动系统的测试程序(步骤S320)。测试程序对SAS硬盘进行存取操作(步骤S330)。控制端接收SAS硬盘的存取测试报告(步骤S340)。

但由于SAS背板220中具有多达8至16个SAS接口221，所以安装等量的SAS硬盘230就得耗费许多时间。更何况每一次安装SAS硬盘230就得重新启动控制端210，因此整体的测试时间就会被拉长。

发明内容

本发明的目的在于提供一种桥接SAS信道测试系统及其测试方法，应用于测试SAS背板的SAS接口是否能正常运行，测试系统系利用SAS背板桥接数个终端装置，检测SAS背板所选择的SAS信道是否正常运行。

为了实现上述目的，本发明提供了一种桥接SAS信道测试系统，包括有：控制端、热插拔桥接接口、第一转接板及第二转接板终端装置。

控制端用以发送测试信号及检测终端装置所回馈的待测信号，控制端用以选择SAS接口的其中的一个作为发送测试信号的传送管道。热插拔桥接接口电性连接于控制端，热插拔桥接接口用以接收及转换控制端发送的测试信号。第一转接板分别电性连接于热插拔桥接接口与SAS背板，第一转接板用以转换热插拔桥接接口对SAS信道的低电压差动信号。第二转接板分别电性连结于SAS背板，第二转接板用以转换SAS信道对热插拔桥接接口的低电压差动信号，并用以存取终端装置。

从本发明的另一观点，本发明提出一种桥接SAS信道的测试方法，用以桥接存取数个终端装置，借以检测SAS信道是否能正常运行，测试方法包括：提供第一转接板与第二转接板，将SAS背板分别连接第一转接板与第二转接板之间。连结第二转接板与终端装置。提供热插拔桥接接口，其分别连接控制端与第一转接板。由控制端发送测试信号至终端装置。终端装置回传所接收到的待测信号至控制端，控制端对比测试信号与回传的待测信号是否相符。此外，本发明还利用通用序列总线或IEEE 1394作为热插拔桥接接口，使其用以桥接热插拔接口的终端装置。在完成测试后就可以直接移除SAS背板且不需关闭系统。