[发明专利]用于提供校准的片上终端阻抗的技术有效

专利信息
申请号: 200710146559.5 申请日: 2007-08-21
公开(公告)号: CN101132173A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: V·桑图卡;李贤模 申请(专利权)人: 阿尔特拉公司
主分类号: H03K17/60 分类号: H03K17/60;H04L25/02;H03K19/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 提供 校准 终端 阻抗 技术
【权利要求书】:

1.一种包括片上终端OCT校准电路的集成电路,所述OCT校准电路包括:

第一晶体管,其耦连到第一终端;和

第一反馈回路,其耦连至所述第一晶体管,所述反馈回路响应所述第一终端处的信号和第一参考信号之间的第一比较以及响应所述第一终端的信号和第二参考信息之间的第二比较,生成第一校准码来控制所述第一晶体管的导通状态,其中所述OCT校准电路选择所述第一校准码中的一个校准码来控制管脚处的片上终端阻抗。

2.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述OCT校准电路确定所述第一校准码中是否有一个校准码在所述第一终端产生所述第一和第二参考信号之间的信号,

并且如果所述第一校准码中的一个校准码在所述第一终端处产生所述第一和第二参考信号之间的信号,则所述OCT检验电路选择该第一校准码来控制所述片上终端阻抗。

3.根据权利要求2所述的集成电路,其中如果所述第一校准码中的一个校准码在所述第一终端处没有产生所述第一和第二参考信号之间的信号,则所述OCT校准电路选择最接近所述第一参考信号的所述第一校准码。

4.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述第一反馈回路进一步包括第一比较器和第二比较器,所述第一比较器产生第一比较,而所述第二比较器产生第二比较。

5.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述OCT校准电路进一步包括:

第二晶体管,其耦连至第二终端;和

第二反馈回路,其耦连至所述第二晶体管,所述第二反馈回路响应所述第二终端的信号和所述第一参考信号之间的第三比较以及响应所述第二终端的信号和第三参考信号之间的第四比较,产生第二校准码来控制所述第二晶体管的导通状态,

其中所述第三和第四比较用来选择所述第二校准码中的一个校准码以控制所述管脚处的片上终端阻抗。

6.根据权利要求1所述的集成电路,且其中所述第一反馈回路响应在所述第一终端的信号和第三参考信号之间的第三比较,产生所述第一校准码来控制所述第一晶体管的导通状态,并且所述OCT校准电路确定所述第一校准码中是否有一个校准码在所述第一终端处产生所述第一和所述第二参考信号之间的信号,

如果所述第一校准码中的一个校准码在所述第一终端处没有产生所述第一和所述第二参考信号之间的信号,则所述OCT校准电路确定所述第一校准码中的一个校准码是否在所述第一终端处产生所述第一和所述第三参考信号之间的信号,以及

如果所述第一校准码中的一个校准码在所述第一终端处产生所述第一和所述第三参考信号之间的信号,则所述OCT校准电路选择该第一校准码来控制所述片上终端阻抗,其中所述第一和第二参考信号之间的差小于所述第一和第三参考信号之间的差。

7.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述第一反馈回路包括:

比较器;和

选择逻辑电路,其被耦连以接收所述第一和所述第二参考信号,所述选择逻辑电路选择性地将所述参考信号中的一个耦连到所述比较器的输入。

8.一种控制集成电路上的片上终端阻抗的方法,所述方法包括:

将第一终端处的信号和第一参考信号进行比较以产生第一比较信号;

将所述第一终端处的信号和第二参考信号进行比较以产生第二比较信号;

响应所述第一和所述第二比较信号,产生校准码来选择性地控制耦连到所述第一终端的第一晶体管的导通状态;和

选择所述校准码中的一个校准码来控制管脚处的片上终端阻抗。

9.根据权利要求8所述的方法,其中选择所述校准码中的一个校准码进一步包括确定所述校准码中的一个校准码是否在所述第一终端产生所述第一和所述第二参考信号之间的信号,

并且如果所述校准码中的一个校准码在所述第一终端产生所述第一和所述第二参考信号之间的信号,则选择该校准码来控制所述片上终端阻抗。

10.根据权利要求9所述的方法,其中选择所述校准码中的一个校准码进一步包括:如果所述校准码中的一个校准码在所述第一终端没有产生所述第一和所述第二参考信号之间的信号,则选择与所述第一参考信号最接近的校准码。

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