[发明专利]使用主机数据集来复制和同步多个数据集的方法有效
申请号: | 200710146563.1 | 申请日: | 2007-08-21 |
公开(公告)号: | CN101136039A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | G·A·范胡本;D·A·韦伯;C·J·贝里 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 主机 数据 复制 同步 方法 | ||
技术领域
本发明一般地涉及改进的管理计算机和数字系统的集成电路的设计数据的方法,具体地说,涉及管理与一个逻辑实体的许多唯一物理副本相关联的设计数据。
背景技术
随着集成电路的复杂性和性能的增加,定制集成电路的特定构建块或宏的各个物理副本(称为“实例”)的需要变得更为普遍。这些宏可以和缓冲器或IO束(io book)一样简单,或和整体微处理器核心一样复杂,以及处于两者之间。存在许多驱动定制需求的设计要求,包括但不限于:定时、功率、物理形状因数、物理定向和电路性能。
在先前几代的数字和计算机设计中,这几乎不是问题,因为保守的设计方法可以容易地适应围绕所有实例的物理限制和要求。将宏的多个完全相同的副本放置在集成电路上的简单方法足以满足设计要求。
随着技术和设计的发展,这变得更加困难。例如,如今微处理器的时钟速度通常不仅需要用于宏,而且需要用于每个宏的每个实例的定制定时断言和解决方案。另一个需要定制的例子是实例副本的不同物理定向。较早的CMOS技术适合CMOS FET门的各种定向。但是,在当前的CMOS技术中,通常要求FET门跨整个集成电路芯片在一个方向上对齐。所以对于要求FET平行对齐的技术,诸如将实例的一个副本旋转90度的简单芯片底板元件布置操作将要求门在原始方向的副本的全新物理设计。同样,在芯片底板元件布置中,可用空间可能需要实例的各个副本具有不同的纵横比。再次,它要求创建唯一的物理实例。另一个例子是调整IO束电阻,其中在功能上所有IO束都完全相同,但是将物理上不同的电阻值置于束中以匹配导线的阻抗。所有这些情况都要求定制物理实例。
描述特定宏的数据通常在设计数据管理器(DDM)的控制下存储在数据库中,设计数据管理器同步并提供数据的联锁和可计量性。此数据可以包括块的逻辑描述(由使用VHDL、Verilog等的工具创建)、定时规则、审计状态、物理实施方式,以及其他与特定块关联的数据集。计算机辅助设计(CAD)工具使用所述数据来制作集成电路芯片。所述数据集还提供了与设计的历史、有效性和真实性有关的信息。
对于复制了多次并且其中所有物理副本都完全相同的宏的情况,数据管理是简单的,因为所有副本都可以引用同一主机数据集。但是,在上述情况中,其中已定制了副本的物理实施方式,则描述该物理实施方式的唯一数据集必须保存在数据库中。不幸的是,许多CAD工具和IC设计方法要求设计实体的一致命名并且不支持在设计实体间共享数据集。这些限制要求每个唯一物理副本的所有数据集的完整副本,尽管许多数据集可能是完全相同的。例如,逻辑(VHDL)描述对于所有IO束可以是相同的,但是可能有数百个具有不同电阻值的物理束,产生了对设计数据库中数以百计的完全相同表项的需要。
在历史上,普通的穷举法是生成每个正在使用的定制副本的所有数据集的副本。该方法很简单并适合现有的方法和数据管理。但是,必须在所有副本间复制所有逻辑更新。对于一个或两个逻辑唯一的块的一个或两个副本,这些方法可以工作而不需要太多额外开销。但是,对于穷举法来说,维护数百甚至数千副本的需要变得困难和难以控制。
另一个方法是有选择地复制所需的数据集(物理设计数据),同时保留公共的数据集的单个副本(诸如VHDL数据集的逻辑数据集)。该方法是合乎需要的,因为它使得可以容易地管理、维护和验证公共数据。但是,如前所述,大多数CAD工具和设计方法实施设计实体的一致命名并阻止选择性的方法。
需要一种方法,其允许维护具有多个实例的数据集的单个副本并允许描述这些实例的唯一特性的唯一数据集在现有设计数据库框架中与现有CAD工具一起工作。
发明内容
本发明允许使用公共数据集的一个副本以及多个实例,同时继续利用现有的设计数据库和现有的CAD工具。具体地说,本方法旨在通过使用用于将所述公共数据集复制到一个或多个克隆数据集中的方法来允许最少量的用户介入以创建和维护公共数据集。本文说明的用于使用主机数据集复制和同步一个或多个数据集的方法包括:提供主机数据集和至少一个克隆数据集的数据设计管理,以及将主机物理设计数据集复制到一个或多个物理实例以使能定制所述一个或多个物理实例。所述主机数据集描述了以下项中的至少一个:设计组件、电路宏和电路实体,并包括逻辑数据集和物理设计数据集。可以将逻辑数据集复制到逻辑克隆数据集的一个或多个实例中。这允许通过公共数据集与克隆数据集之间的自动同步,将所有现有的通常针对公共数据集执行的验证过程同样应用于所述克隆数据集。通过这种方式,没有损害任何质量保证操作。
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