[发明专利]全息记录材料、其制造方法及全息记录介质有效
申请号: | 200710148363.X | 申请日: | 2007-08-31 |
公开(公告)号: | CN101135846A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 小须田敦子;林田直树;吉成次郎 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G03F7/075;G03H1/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 全息 记录 材料 制造 方法 介质 | ||
1.一种全息记录材料,其中,
包含:作为金属含有选自Si、和由Ta及Zr构成的组中的至少一种且在Ta及/或Zr上配位有配位物形成配位基的金属氧化物;和光聚合性化合物。
2.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,
配位物形成配位基选自β-二羰基化合物、聚羟基化配位基及α-或β-羟基酸构成的组。
3.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,
金属氧化物具有2个芳基与Si直接结合的有机金属单元。
4.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,还含有光聚合引发剂。
5.一种全息记录材料的制造方法,所述全息记录材料包含:作为金属包含Si、和选自Ti及Zr构成的组中的至少一种且在Ta及/或Zr上配位有配位物形成配位基的金属氧化物、和光聚合性化合物,其中,
所述制造方法包括:
混合Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物、和配位物形成配位基,将Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物用配位物形成配位基修饰的工序;
混合被配位物形成配位基修饰的Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物、和Si的烷氧化物的工序;
使所混合的烷氧化物水解,得到金属氧化物的前体的工序;
在所述水解前、水解时或水解后,混合光聚合性化合物的工序;
使混合有光聚合性化合物的金属氧化物前体进行缩聚反应的工序。
6.根据权利要求5所述的全息记录材料的制造方法,其中,
配位物形成配位基选自β-二羰基化合物、聚羟基化配位基及α-或β-羟基酸构成的组。
7.一种全息记录介质,其中,
具有权利要求1所述的全息记录材料。
8.根据权利要求7所述的全息记录介质,其中,通过波长350nm~450nm的激光记录/再生。
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