[发明专利]全息记录材料、其制造方法及全息记录介质有效

专利信息
申请号: 200710148363.X 申请日: 2007-08-31
公开(公告)号: CN101135846A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 小须田敦子;林田直树;吉成次郎 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G03F7/00 分类号: G03F7/00;G03F7/075;G03H1/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李贵亮
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 全息 记录 材料 制造 方法 介质
【权利要求书】:

1.一种全息记录材料,其中,

包含:作为金属含有选自Si、和由Ta及Zr构成的组中的至少一种且在Ta及/或Zr上配位有配位物形成配位基的金属氧化物;和光聚合性化合物。

2.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,

配位物形成配位基选自β-二羰基化合物、聚羟基化配位基及α-或β-羟基酸构成的组。

3.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,

金属氧化物具有2个芳基与Si直接结合的有机金属单元。

4.根据权利要求1所述的全息记录材料,其中,还含有光聚合引发剂。

5.一种全息记录材料的制造方法,所述全息记录材料包含:作为金属包含Si、和选自Ti及Zr构成的组中的至少一种且在Ta及/或Zr上配位有配位物形成配位基的金属氧化物、和光聚合性化合物,其中,

所述制造方法包括:

混合Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物、和配位物形成配位基,将Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物用配位物形成配位基修饰的工序;

混合被配位物形成配位基修饰的Ta的烷氧化物及/或Zr的烷氧化物、和Si的烷氧化物的工序;

使所混合的烷氧化物水解,得到金属氧化物的前体的工序;

在所述水解前、水解时或水解后,混合光聚合性化合物的工序;

使混合有光聚合性化合物的金属氧化物前体进行缩聚反应的工序。

6.根据权利要求5所述的全息记录材料的制造方法,其中,

配位物形成配位基选自β-二羰基化合物、聚羟基化配位基及α-或β-羟基酸构成的组。

7.一种全息记录介质,其中,

具有权利要求1所述的全息记录材料。

8.根据权利要求7所述的全息记录介质,其中,通过波长350nm~450nm的激光记录/再生。

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