[发明专利]相位调制装置有效
申请号: | 200710149268.1 | 申请日: | 2007-09-10 |
公开(公告)号: | CN101226292A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 松本直也;井上卓;福智昇央;小林祐二;原勉 | 申请(专利权)人: | 滨松光子学株式会社 |
主分类号: | G02F1/133 | 分类号: | G02F1/133;G02F1/1362;G09G3/36 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 调制 装置 | ||
1.一种相位调制装置,该相位调制装置包括:
空间光调制器,其包括彼此相邻地按二维排列的多个像素,各像素能够以操作电压范围内的电压值进行驱动并且能够响应于驱动电压的施加而对输入光进行相位调制;
输入值设置单元,其设置各像素的输入值;
多个参考数据集,每个参考数据集对应于至少一个像素;
转换单元,其通过参考对应的参考数据集把针对各像素输入的输入值转换成控制值;和
驱动单元,其将所述控制值转换成设置在所述操作电压范围内的工作电压范围内的电压值,所述驱动单元利用与所述电压值相对应的驱动电压来驱动各像素;
各参考数据集将从其取得输入值的多个第一值和从其取得控制值的多个第二值相互关联,以确保所述多个第一值与由对应的至少一个像素获得的相位调制量之间的关系为规定的线性关系,以及
基于所述多个像素中的至少一个像素的电压相关相位调制特性来设置所述工作电压范围。
2.如权利要求1所述的相位调制装置,其中,各参考数据集为查找表的形式,
所述查找表存储所述多个第一值与所述多个第二值之间的一一对应关系。
3.如权利要求1所述的相位调制装置,其中,与块单位相对应地设置所述多个参考数据集,每个块包括至少一个像素。
4.如权利要求3所述的相位调制装置,其中,每个块包括彼此相邻地排列的至少一个像素。
5.如权利要求1所述的相位调制装置,其中,所述输入值设置单元通过针对各像素将表示期望相位量的期望值和表示电压无关变形校准量的校正值相加在一起来确定其和,并且将所述和设置为各像素的所述输入值。
6.如权利要求1所述的相位调制装置,其中,所述输入值设置单元将表示期望相位图案的期望值设置为各像素的所述输入值,
各参考数据集将从其取得输入值的所述多个第一值和从其取得控制值的所述多个第二值相互关联,以确保通过将所述第一值和表示电压无关变形校准量的校正值相加而确定的和与由对应的至少一个像素获得的相位调制量之间的关系为规定的线性关系。
7.如权利要求1所述的相位调制装置,其中,基于通过参考已经产生的参考数据集将所述多个输入值转换成多个控制值、将所述多个控制值转换成所述电压值、并在由为对应电压值的驱动电压来驱动至少一个对应像素的同时测量表示所述电压相关相位调制特性的相位调制量而获得的测量结果,来重复地重新产生各参考数据集。
8.如权利要求5所述的相位调制装置,其中,基于通过使用各像素的已经产生的校正值和相位指示值之和、参考对应的参考数据集将所述和转换成控制值、将所述控制值转换成所述电压值、并在由为所述电压值的驱动电压来驱动所述各像素的同时测量所述电压无关变形而获得的测量结果,来重复地重新产生各像素的表示电压无关变形校准图案的校正值。
9.如权利要求1所述的相位调制装置,该装置还包括:
参考数据映射,其基于各像素的相位调制特性将所述各像素与多个组中的一个相互关联;和
识别单元,其使用所述参考数据映射来识别对应于与各像素相关联的组的一个参考数据集,
其中,所述多个参考数据集与所述多个组具有一一对应关系。
10.如权利要求9所述的相位调制装置,其中,所述参考数据映射将各像素的位置数据与一个参考数据集相互关联,该参考数据集对应于与所述各像素相关联的一个组。
11.如权利要求10所述的相位调制装置,其中,基于表示各像素的电压相关相位调制特性和基准像素的电压相关相位调制特性之间的差的值,所述参考数据映射将所述各像素的位置数据与一个参考数据集相互关联,该参考数据集对应于与所述各像素相关联的一个组。
12.如权利要求11所述的相位调制装置,其中,基于表示所述各像素的电压相关相位调制特性和所述多个像素的电压相关相位调制特性的平均值之间的差的值,从所述多个像素中选择所述基准像素。
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