[发明专利]电源噪声模型建立方法及其装置

权利要求书

1.一种电源噪声模型建立方法，其特征在于，包括步骤：

采样在单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点处的电压值；

对采样得到的各个电压值进行模数转换，得到对应的基于数字量表示的各个电压值，对每个基于数字量表示的电压值进行数字滤波，以及对滤波后的基于数字量表示的各个电压值转换到频域，得到由各个转换后的频域电压值组成的频域电压序列；

获得所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵，以及

将所述阻抗矩阵的逆矩阵与所述频域电压序列相乘，得到所述单板上对应各个IC芯片的电源噪声模型。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对应IC芯片选定的电压测试节点处于该芯片管脚上，或处于该芯片管脚周边规定范围内。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，同步对各个电压测试节点处的电压值进行采样。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过对滤波后的基于数字量表示的各个电压值进行离散傅立叶变换，来将基于数字量表示的各个电压值转换到频域。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获得单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵的过程具体包括：

求取在单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点的输入阻抗，以及各个电压测试节点之间的传输阻抗；

由所述求取的各个输入阻抗及其传输阻抗作为矩阵元素组成所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获得单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵的过程具体包括：

求取在单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点的反射系数，以及各个电压测试节点之间的传输系数；

由所述求取的各个反射系数及其传输系数作为矩阵元素组成所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵。

7.一种建立电源噪声模型的装置，其特征在于，包括数据采样单元、频域转换单元、阻抗矩阵获得单元和电源噪声模型建立单元，所述频域转换单元包括模数转换子单元、数字滤波子单元和频域转换子单元，其中：

数据采样单元，用于采样单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点处的电压值；

频域转换单元中：

模数转换子单元，用于将经过所述数据采样单元采样得到的各个电压值进行模数转换为对应的基于数字量表示的各个电压值；

数字滤波子单元，用于将经过所述模数转换子单元得到的基于数字量表示的各个电压值进行数字滤波，得到滤波后基于数字量表示的各个电压值；

频域转换子单元，用于将滤波后的基于数字量表示的各个电压值转换到频域，得到由各个转换后的频域电压值组成的频域电压序列；

阻抗矩阵获得单元，用于获得所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵；以及

电源噪声模型建立单元，用于将所述阻抗矩阵的逆矩阵与所述频域电压序列相乘，得到所述单板上对应各个IC芯片的电源噪声模型。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述阻抗矩阵获得单元通过分别求取单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点的输入阻抗以及各个电压测试节点之间的传输阻抗，并将求取的各个输入阻抗及其传输阻抗作为矩阵元素组成所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述阻抗矩阵获得单元通过分别求取单板上对应每个IC芯片选定的电压测试节点的反射系数，以及各个电压测试节点之间的传输系数，并将求取的各个反射系数及其传输系数作为矩阵元素组成所述单板以各个选定的电压测试节点为测量端口的阻抗矩阵。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述数据采样单元同步对单板中对应每个IC选定的电压测试节点处的电压值进行采样。