[发明专利]角度测量系统及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200710152762.3 申请日: 2007-09-20
公开(公告)号: CN101149258A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: J·米特赖特 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;B23K26/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曹若;赵辛
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 角度 测量 系统 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.角度测量系统,它包括一支承装置(12)和一扫描头(4),其中该支承装置(12)包括

*一刻度环(1.1),

*一外环(2),和

*滚动体(3),其中,该刻度环(1.1)相对于外环(2)可绕一轴线(A)转动,并且

既在刻度环(1.1)上、也在外环(2)上分别形成一导轨表面(1.11、2.11),其中,刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)具有比外环(2)的导轨表面(2.11)更小的导轨半径(r);

外环(2)的导轨表面(2.11)与刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)相对置地设置,并且滚动体(3)以这种方式设置在所述两个导轨表面(1.11、2.11)之间:支承装置(12)径向无间隙;

一角标度(1.12)以下述方式直接设置在刻度环(1.1)上,即在一第一区域(U1)中的角标度(1.12)的一几何图案根据支承装置(12)的圆周运动偏差而与一第二区域(U2)中的角标度(1.12)的一几何图案有偏差,并且

角标度(1.12)可通过扫描头(4)进行扫描。

2.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,角标度(1.12)设置在刻度环(1.1)的一壳体侧面上。

3.按照权利要求2所述的角度测量系统,其中,角标度(1.12)以一方向分量平行于轴线(A)对准。

4.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,刻度环(1.1)的轴向扩展部位沿径向方向变化。

5.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,刻度环(1.1)在它的外壁(1.13)上具有其最大的轴向扩展部位(H)。

6.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,刻度环(1.1)的在其上设置有角标度(1.12)的那个区域(1.14)至少部分地在径向上位于外环(2)的最小的内直径之外。

7.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,刻度环(1.1)部分地包围外环(2)。

8.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,角标度(1.12)以一径向方向分量对准。

9.按照权利要求1所述的角度测量系统,其中,支承装置(12)轴向无间隙。

10.用于制造一种具有一由一扫描头(4)可扫描的角标度(1.12)的角度测量系统的方法,其中,该角度测量系统具有一支承装置(12),该支承装置包括一刻度环(1.1)、一外环(2)和滚动体(3),并且刻度环(1.1)围绕一轴线(A)可相对于外环(2)转动,该制造方法具有下述步骤:

*制造刻度环(1.1)和外环(2),其中既在刻度环(1.1)上也在外环(2)上分别产生一精细加工的导轨表面(1.11、2.11),其中,刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)具有比外环(2)的导轨表面(2.11)更小的导轨半径(r),

*以下述方式组装支承装置(12),即外环(2)的导轨表面(2.11)与刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)相对置地设置,并且滚动体(3)如此设置在所述两个导轨表面(1.11、2.11)之间:支承装置(12)径向无间隙,

*将刻度环(1.1)和外环(2)固定在一台刻度机(100)的可彼此相对转动的部件(10、20)上,

*将角标度(1.12)直接设置在刻度环(1.1)上,其中,在这一步骤中刻度环(1.1)相对于刻度机(100)中的外环(2)围绕轴线(A)转动。

11.按照权利要求10所述的用于制造一角度测量系统的方法,其中,借助磨削-珩磨或研磨工序来加工导轨表面(1.11、2.11)。

12.按照权利要求10所述的用于制造一角度测量系统的方法,其中,以下述方式切削地制造刻度环(1.1),即它的轴向扩展部位沿径向方向变化。

13.按照权利要求12所述的用于制造一角度测量系统的方法,其中,在组装支承装置(12)时,在刻度环(1.1)和外环(2)之间产生一种径向预应力。

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