[发明专利]存储装置的测试方法有效
申请号: | 200710154050.5 | 申请日: | 2007-09-13 |
公开(公告)号: | CN101388254A | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
发明(设计)人: | 罗梓桂;陈志丰 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程 伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 装置 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种存储装置的测试方法,具体而言,是关于一种供计算机系统利用测试软件对与该计算机系统电性连接的存储装置完成效能测试的存储装置的测试方法。
背景技术
随着计算机技术的迅速发展,计算机操作系统功能越来越强大,应用程序也越来越多,而存储该操作系统及这些应用程序的硬盘也就扮演着重要角色。一旦硬盘执行不稳或负荷过重,都会造成整个系统效能大幅下降。因此,系统厂商或服务器管理者特别重视硬盘运转的稳定度,因为其稳定度与整个操作系统的效能有着莫大的关系,故有必要在服务器或硬盘出厂前作缜密的测试工作。
目前,在测试服务器的效能上,特别是硬盘,多以人工方式处理。其处理流程为记录待测硬盘资讯、选择测试工具、运行相关压力(stress)测试工具、输入需要测试硬盘的代号、察看效能测试值并记录下来、反复测试数十次以上、对所有测试结果求平均值、以及再把该平均值和客户要求的最低期望值进行比较,以判断是否符合测试要求,而获得最终测试结果(Pass/Fail)。其中该效能测试值是由系统自带的测试命令行Hdparm测试而得,且Hdparm一次只能测试一个硬盘,以及有一个返回值,例如,#hdparm-Td/dev/sda(可对sda硬盘作效能测试,而得到这颗硬盘的效能测试数据)、#hdparm/dev/sda(可察看目前sda的参数设定状态)、#hdparm-i/dev/sda(可察看详细资料状况与支援类型)。
然而,上述硬盘测试所面临的问题包括:需要测试工程师多次输入测试数据和比对数据。一般而言,一个硬盘测试所需时间大约需要18分钟,既浪费时间且易出错;若测试的次数不够,则测试结果不够准确;每次只能进行一个硬盘的测试,效率不高,如果需要测试多个硬盘,将浪费许多时间;所有的测试结果都是人工记录,不利于测试 结果的管理。故现行硬盘效能测试方式,着实增加硬盘厂商的测试成本。
因此,在检查硬盘的效能中,如何有效减少人力负荷,使硬盘所测试出的结果既准确又兼具高效率,即是目前亟需解决的问题。
发明内容
鉴于以上现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以确保测试结果的准确性。
本发明的另一目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以减轻工程师负担,并能节省测试时间。
本发明的又一目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以提高硬盘测试工作的效率。
为达上述目的或其他目的,本发明提供一种存储装置的测试方法,仅需输入待测的存储装置类型以及需要测试次数,即可对待测的存储装置进行测试。该测试方法包括:预存数个存储装置类型及相对的存储装置效能期望值,接着接收输入待测存储装置类型及测试次数,并对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试,然后根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,进而依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果,最后并存储所有的效能测试结果及比较结果。因此,工程师不必针对每一类型的存储装置输入不同的参数值,故可大幅缩减测试时间,并增加测试的准确性。
在一实施例中,可基于该平均值大于或等于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一通过测试的信息;在另一实施例中,还可基于小于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一未通过测试的信息。
通过本发明的存储装置的测试方法,使测试工程师不必多次输入测试数据和比对数据,自动计算出平均值且与期望值直接比较,进而判断该存储装置是否符合测试要求,因而得到较精确的测试结果,以及节省人工测试时间。
附图说明
图1显示本发明的存储装置的测试方法的运作流程示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此领域的技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明亦可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不悖离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
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