[发明专利]电光元件及扫描型光学装置有效
| 申请号： | 200710154419.2 | 申请日： | 2007-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN101144903A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 野岛重男 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G02B26/10 | 分类号： | G02B26/10;H04N5/74;G02B17/08 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 陈海红;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电光 元件 扫描 光学 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种电光元件，其特征在于，具备：
光学元件，其折射率分布相应于产生于内部的电场的大小发生变化，由此对所入射的激光进行扫描；和
第1电极及第2电极，其分别配置于该光学元件的相对向的2个面；
前述第1电极及第2电极之中至少一方的电极是透明电极。
2.按照权利要求1所述的电光元件，其特征在于：
前述透明电极的光射出端面，相对于前述光学元件的光射出端面倾斜。
3.按照权利要求1或2所述的电光元件，其特征在于：
在前述透明电极上配置有具有光透射性的光学构件。
4.按照权利要求3所述的电光元件，其特征在于：
前述光学构件的折射率，比前述透明电极的折射率高。
5.按照权利要求3或4所述的电光元件，其特征在于：
前述光学构件的光射出端面，相对于前述光学元件的光射出端面倾斜。
6.按照权利要求1～5中的任何一项所述的电光元件，其特征在于：
在前述光学元件的光射出端面侧设置有遮光构件。
7.按照权利要求1～6中的任何一项所述的电光元件，其特征在于：
前述光学元件具有KTa1-xNbxO3的组成。
8.一种扫描型光学装置，其特征在于，具备：
射出光的光源装置，和
扫描单元，其使从该光源装置射出来的光朝向被投影面进行扫描；
该扫描单元，具有权利要求1～7中的任何一项所述的电光元件。
9.按照权利要求8所述的扫描型光学装置，其特征在于：
前述电光元件，进行水平扫描。
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