[发明专利]吸阻仪自动校准系统及其校准方法无效

专利信息
申请号: 200710157563.1 申请日: 2007-10-19
公开(公告)号: CN101413869A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 宋世亮;杨玉杰;孟宪忠;孙影;韩成民;郭东民 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08;G01N7/10;G01N33/00
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人: 许宗富
地址: 110168辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 吸阻仪 自动 校准 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种吸阻仪自动校准系统,其特征在于:具有气路装置及电控装置,气路装置包括校准气路和测量气路,并联于同一气源,其中校准气路具有两个吸阻标准测量头,测量气路具有样品测量头(1),各测量头在各自的气路中,分别经电动阀及手动阀后通过同一流量恒定元件及缓冲室(9)与负压真空泵(11)相连,流量恒定元件及缓冲室(9)中设有气体压差传感器(10);

所述电控装置具有吸阻主控板,其输出端经吸阻接口板分别与设于各气路中的电动阀相连,吸阻主控制板的串行通讯接口通过AD采样板接有吸阻传感器;所述吸阻主控板中存有吸阻自动校准控制程序。

2.一种按权利要求1所述吸阻仪自动校准系统的吸阻自动校准方法,其特征在于包括以下步骤:

启动负压真空泵;

在初始状态下,手动调节测量气路和校准气路的基准气压,使其保持一致后,在两个吸阻标准棒测量头中分别放入两个吸阻值不同的吸阻标准棒;

进行第1吸阻标准棒校准操作,得到第1实测值;

进行第2吸阻标准棒校准操作,得到第2实测值;

根据上述第1、2实测值及第1、2吸阻标准棒的标定值计算校准曲线参数,得到标准曲线斜率k及增益b;

自动吸阻校准结束;

通过以下公式计算校准曲线参数:

k=(第1实测值-第2实测值)/(第1标定值-第2标定值);

b=第1标定值-第1实测值χk。

3.按权利要求2所述吸阻仪自动校准系统的吸阻自动校准方法,其特征在于:所述初始状态为各测量头空载、各电动阀为非带电状态。

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