[发明专利]有机EL显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种有机EL显示装置，特别涉及对有机EL元件的发光特性随着动作时间而发生变化进行修正的显示技术。

背景技术

现有显示装置的主流是CRT，但取而代之，作为平板显示装置的液晶显示装置、等离子体显示装置等正在实用化，需求逐渐增大。进而，除了这些显示装置之外，利用了有机电致发光的显示装置(以下称为有机EL显示装置(OLED))、和通过以矩阵状配置利用场致发射的电子源而使配置在阳极的荧光体发光从而形成图像的显示装置(FED显示装置)的开发、实用化也处于进展中。

有机EL显示装置具有如下特征：(1)由于与液晶相比是自发光型，因而不需要背光源，(2)发光所需要的电压低至10V以下，有可能减小功耗，(3)与等离子体显示装置和FED显示装置相比，不需要真空结构，适合轻型化、薄型化，(4)反应时间缩短至数微秒，动画特性出色，(5)视场角宽至170度以上等。

有机EL显示装置具有如上述那样的特征，但作为问题之一，具有有机EL发光元件(以下称为OLED元件)的发光特性随着动作时间发生变化的现象。而且，该OLED的特征变化在长时间显示了特定的图像时，有时会出现该图像的仅一部分的特性发生劣化的、所谓的“余像”。与画面整体的亮度逐渐减小的情况相比，这种余像现象非常显著。要使这种余像不显著，就需要检测出全部图像的OLED元件的特性，并将该结果反馈到从主机输入的输入信号。

OLED元件的特征变化表现为OLED元件的电压-电流特征变化和电流-发光亮度特征的变化。其中，电压-电流特征的变化随着动作时间发生变化，即使施加相同的电压，流过的电流也将变小。图16示出这种现象。图16的横轴是对OLED元件施加的电压，纵轴是在OLED元件中流过的电流密度。特性1是OLED元件的初始特性。特性2是OLED元件的时间经过后的特性。当考虑OLED元件的发光与流过OLED元件的电流成比例时，随着时间经过，即使施加相同的电压，OLED元件的发光亮度也发生变化，无法实现正确的图像显示。

这种情况反过来说，为了发出相同的发光，需要为流过相同的电流而施加更高的电压。图17是表示用于在OLED元件流过相同的电流的施加电压的变化的图。在图17中，横轴是动作时间，纵轴是用于在OLED元件上流过一定电流的施加电压。图17示出了为了在OLED元件上流过相同的电流而必须随着动作时间增加施加电压的情况。

如上所述，为了用有机EL显示装置显示正确的图像，需要定期地测定所有像素的OLED元件的电压-电流特性，并将其反馈到所输入的图像信号。作为记载这种技术的文献，可以列举出“专利文献1”或者“专利文献2”。

专利文献1：日本特开2005-156697号公报；

专利文献2：日本特开2002-341825号公报。

发明内容

在如上所述的现有技术中，记载有如何使用于图像显示的图像数据的写入或者用于图像形成的OLED元件的发光、和OLED元件的特性检测并存的技术。但是，没有公开以怎样的基准测定OLED元件的特性变化。只要OLED元件的特性是否发生了变化的基准不合适，就会反馈错误的数据，从而无法正确地进行显示，失去了反馈的意义。

作为以往采用的方法之一，有如下的方法：记录各像素的特性，对新测定的数据和前一次测定的数据进行比较，将其差作为老化或者余像的数据进行反馈。该方法在该像素在耐用期限中变为发生断线或者短路那样的异常像素的情况下会反馈错误的数据。

以往采用的另一方法是设定基准像素，并对该基准像素的OLED元件和各像素OLED元件的特性进行比较。但是，有时该基准像素会发生老化。若基准像素发生老化，比较的基准就会发生变化，不可能实现适当的反馈。另外，当基准像素位于远离图像显示区域的位置时，将产生由图像显示区域和基准像素的温度差引起的对OLED元件特性的影响。当不对其进行适当地修正时，就无法实现对图像数据的正确的反馈。

本发明是为解决上述问题而提出的，在本发明中，不是将OLED元件的老化与显示区域外的基准像素的OLED元件进行比较，而是例如对显示区域内的相邻的像素的OLED元件进行比较。由此，能够消除在显示区域内和显示区域外温度不同的影响。