[发明专利]校验数据的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及数据存储领域，特别涉及一种校验数据的方法和装置。

背景技术

ECC(Error Checking and Correcting，错误检查和纠正)是指存储数据时，在数据位额外的位存储一个ECC计算结果，即ECC校验码，当重新读取已存储的数据时，根据ECC校验码对该数据进行校验，如果发现该数据有错误，则进行相应的处理。如当检查出有1个比特位错误时，则进行纠正，当检查出有多个比特位错误时，则产生告警信息。

现有技术中ECC功能一般由芯片的内存控制器来完成，当在内存中存储数据时，内存控制器进行ECC计算得到ECC校验码，并将该ECC校验码也存储在内存中，当从内存中读取该数据时，根据已存储的ECC校验码对该数据进行校验，如果该数据发生错误则进行相应的纠正和保护。

在实现本发明的过程中，发明人发现上述现有技术至少具有以下缺点：

并非所有芯片的内存控制器都具有ECC功能，当这种硬件上不支持ECC功能的芯片在内存中存储和读取数据时，无法根据ECC校验码对数据进行ECC校验，因此，当发生异常情况时，无法对存储的数据进行保护，可能导致重要的数据遭到破坏。如当由于某种原因发生一个比特位跳变而使内存中的数据发生软失效时，无法对该数据进行校验和保护。

发明内容

为了提高数据的可靠性，本发明实施例提供了一种校验数据的方法和装置。所述技术方案如下：

一方面，本发明实施例提供了一种校验数据的方法，所述方法包括：

CPU生成待校验的数据的错误检查和纠正的校验码，所述数据存储在目标芯片所使用的内存中；

存储所述校验码；

CPU根据所述数据和校验码对所述数据进行错误检查和纠正校验。

另一方面，本发明实施例还提供了一种校验数据的装置，所述装置包括：

处理模块，用于生成待校验的数据的错误检查和纠正的校验码，所述数据存储在所述装置中的目标芯片所使用的内存中；

存储模块，用于存储所述处理模块生成的校验码；

校验模块，用于根据所述数据和所述存储模块存储的校验码，对所述数据进行错误检查和纠正校验。

本发明实施例提供的技术方案的有益效果是：

通过预先生成ECC校验码并在校验时根据读取的数据与该ECC校验码对该数据进行ECC校验，可以正确判断出目标芯片所使用的内存中的数据的正确性。与现有技术相比，克服了目标芯片硬件不支持ECC校验功能的缺陷，可以及时检测出目标芯片所使用的内存中的数据是否遭到破坏，并对其进行保护，提高了数据的可靠性。

附图说明

图1是本发明实施例1提供的校验数据的方法流程图；

图2是本发明实施例1提供的芯片与内存的关系示意图；

图3是本发明实施例1提供的CPU对NP所使用的内存中的数据进行保护的示意图；

图4是本发明实施例2提供的校验数据的装置结构图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

本发明实施例通过在目标芯片所使用的内存中存储数据时生成并存储该数据的ECC校验码，校验时读取该数据和ECC校验码，根据该数据和ECC校验码对该数据进行ECC校验。

实施例1

参见图1，本发明实施例提供了一种校验数据的方法，具体包括：

S101：在目标芯片所使用的内存中存储数据。

S102：生成并存储该数据的ECC校验码；

其中，生成ECC校验码的步骤可以由软件实现，本实施例中，执行该软件代码的过程由CPU来实现。该ECC校验码可以存储在CPU所使用的内存中，也可以存储在其他存储器中，例如目标芯片所使用的内存。本实施例中，该ECC校验码存储在CPU所使用的内存中。

S103：从目标芯片所使用的内存中读取数据，从CPU所使用的内存中读取ECC校验码。

其中，可以在使用该数据时，对该数据进行ECC校验，也可以定时对内存中的数据进行校验，如5ms或10ms等等。

S104：根据读取的数据和ECC校验码，对该数据进行ECC校验。