[发明专利]像素结构的制作方法有效
申请号: | 200710161687.7 | 申请日: | 2007-09-28 |
公开(公告)号: | CN101131966A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 詹勋昌;杨智钧;黄明远;林汉涂;石志鸿;廖达文;蔡佳琪 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
技术领域
本发明是有关于一种像素结构的制作方法,且特别是有关于一种使用激光剥离制造工艺(laser ablation process)来制作保护层的像素结构的制作方法(METHOD FOR MANUFACTURING PIXEL STRUCTURE)。
背景技术
显示器为人与信息的沟通界面,目前以平面显示器为主要发展的趋势。平面显示器主要有以下几种:有机电激发光显示器(organicelectroluminescence display)、电浆显示器(plasma display panel)以及薄膜晶体管液晶显示器等(thin film transistor liquid crystal display)。其中,又以薄膜晶体管液晶显示器的应用最为广泛。一般而言,薄膜晶体管液晶显示器主要由薄膜晶体管数组基板(thin film transistor array substrate)、彩色滤光数组基板(color filter substrate)和液晶层(liquid crystal layer)所构成。其中,薄膜晶体管数组基板包括多条扫描线(scan lines)、多条数据线(data lines)以及多个数组排列的像素结构(pixel unit),且各个像素结构分别与对应的扫描线及数据线电性连接。
图1A~图1G为现有像素结构的制造流程图。首先,请参照图1A,提供一基板10,并由第一道光罩制造工艺于基板10上形成一栅极20。接着,请参照图1B,在基板10上形成一栅极绝缘层30以覆盖住栅极20。然后,请参照图1C,由第二道光罩制造工艺于栅极绝缘层30上形成一位于栅极20上方的信道层40。一般而言,信道层40的材质为非晶硅(amorphous silicon)。之后,请参照图1D,由第三道光罩制造工艺于信道层40的部分区域以与门极绝缘层30的部分区域上形成一源极50以及一漏极60。由图1D可知,源极50与漏极60分别由信道层40的两侧延伸至栅极绝缘层30上,并将信道层40的部分区域暴露。接着,请参照图1E,于基板10上形成一保护层70以覆盖栅绝缘层30、信道层40、源极50以及漏极60。然后,请参照图1F,由第四道光罩制造工艺将保护层70图案化,以于保护层70中形成一接触孔H。由图1F可知,保护层70中的接触孔H会将漏极60的部分区暴露。之后,请参照图1G,由第四道光罩制造工艺于保护层70上形成一像素电极80,由图1G可知,像素电极80会透过接触孔H与漏极60电性连接。在像素电极80制作完成之后,便完成了像素结构90的制作。
承上述,现有的像素结构90主要是由五道光罩制造工艺来进行制作,换言之,像素结构90需采用五个具有不同图案的光罩(mask)来进行制作。由于光罩的造价十分昂贵,且每道光罩制造工艺皆须使用到具有不同图案的光罩,因此,若无法缩减光罩制造工艺的数目,像素结构90的制造成本将无法降低。
此外,随着薄膜晶体管液晶显示面板的尺寸日益增加,用来制作薄膜晶体管数组基板的光罩尺寸也会随之增加,而大尺寸的光罩在造价上将更为昂贵,使得像素结构90的制造成本无法有效地降低。
发明内容
本发明关于一种像素结构的制作方法,其适于降低制作成本。
为具体描述本发明的内容,在此提出一种像素结构的制作方法,其先提供一基板,并形成一栅极于基板上。接着,形成一栅介电层于基板上,以覆盖栅极。继之,同时形成一信道层、一源极以及一漏极于栅极上方的栅介电层上,其中源极与漏极配置于信道层的部分区域,且栅极、信道层、源极以及漏极构成一薄膜晶体管。接着,形成一保护层于栅介电层与薄膜晶体管上。然后,使用一激光经由一第一屏蔽照射保护层,以使得保护层暴露出漏极。接着,形成一像素电极于栅介电层上,且像素电极连接至暴露的漏极。
在本发明的像素结构制作方法中,上述形成栅极的方法,在一实施例中例如先形成一第一金属层于基板上。接着,再图案化第一金属层,以形成栅极。在另一实施例中,形成栅极的方法例如先形成一第一金属层于基板上。接着,提供一第二屏蔽于第一金属层上方,且第二屏蔽暴露出部分的第一金属层。然后,使用激光经由第二屏蔽照射第一金属层,以移除第二屏蔽所暴露的部分第一金属层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710161687.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:控制网络中数据寻址和转发的方法及系统
- 下一篇:人参农药残留去除方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造