[发明专利]交错式图像处理方法有效

专利信息
申请号: 200710162159.3 申请日: 2007-12-21
公开(公告)号: CN101466014A 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 王基峰;谢俊兴 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: H04N7/01 分类号: H04N7/01
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 交错 图像 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种交错式图像处理方法,适用于交错处理所产生的包括多个列扫描信号的场,且包含以下步骤:

对一目前场进行水平线检测,以找出哪些列扫描信号是水平线;

根据该水平线检测结果及一先前场的水平线检测结果,调整该目前场中水平线的位置,以靠近该先前场中相对应水平线的位置;及

根据该位置调整结果,重新取样该目前场,

该取样的步骤包括根据该位置调整结果,计算相邻扫描信号之间的距离,并根据计算出的距离及一固定取样间隔,计算取样点的相位;

并根据目前场的水平线检测结果及先前场的水平线检测结果,调整计算出的取样点的相位,以使得目前场中水平线的宽度接近该先前场中相应水平线的宽度,从而根据宽度调整结果,重新取样该目前场。

2.如权利要求1所述的方法,其中该调整位置的步骤还包含:

当该目前场是一上场时,将其中非水平线的扫描信号往上移动。

3.如权利要求1所述的方法,其中该水平线检测的步骤包含:

对一扫描信号的每一像素做一特定判断,其中该特定判断是判断该像素是否符合至少一特定条件,

其中:

当该像素与其左方像素的像素差值小于一第一临界值,并且该像素与其上方像素的像素差值大于一第二临界值时,将一水平线计数值加1;

如果该水平线计数值大于一水平线计数临界值,该扫描信号是水平线;及

当该像素与其左方像像素的像素差值小于一第三临界值,该像素与其上方像素的像素差值小于一第四临界值,并且该像素的上方扫描信号是水平线时,该扫描信号是水平线。

4.如权利要求1所述的方法,其中该调整位置的步骤包含:

使用查表方式得到该等扫描信号的位移,以调整水平线位置。

5.如权利要求1所述的方法,其中:

该取样的步骤还包括根据该取样点的相位,以内插方式计算该目前场的扫描信号;

该位置调整结果是以扫描信号的位移来表示,且该位移的方向对应于该位移的值;及

该计算距离的步骤是利用一第一特定公式,其中该第一特定公式包含:

一扫描信号与其上方扫描信号之间的距离=(该上方扫描信号的位移+1)-该扫描信号的位移。

6.如权利要求1所述的方法,其中该取样的步骤是根据该位置调整结果,计算相邻扫描信号之间的距离,并根据计算出的距离及一固定取样间隔,计算取样点的相位,且根据调整后的取样点相位,以内插方式计算该目前场的扫描信号。

7.如权利要求6所述的方法,还包含有:

该位置调整结果是以扫描信号的位移来表示,且该位移的方向对应于该位移的值;

该计算距离的方式是:

一扫描信号与其上方扫描信号之间的距离=(该上方扫描信号的位移+1)-该扫描信号的位移;及

该计算取样点的方式是:

目前剩余相位=二扫描信号之间的总相位-上方取样点的相位,如果剩余相位>固定取样间隔/上方取样点的上、下方扫描信号之间的距离,则目前的变动取样间隔=固定取样间隔/上方取样点的上、下方扫描信号之间的距离,而目前取样点的相位=上方取样点的相位+目前的变动取样间隔,否则,目前取样点的相位=(固定取样间隔-目前剩余相位×上方取样点的上、下方扫描信号之间的距离)/目前取样点的上、下方扫描信号之间的距离。

8.如权利要求6所述的方法,还包含有:

该取样的步骤是使用余弦函数来调整计算出的取样点相位;及

该计算扫描信号的方式是:

输出像素值=(调整后取样点的下方像素值-调整后取样点的上方像素值)×调整后取样点的相位/二扫描信号之间的总相位+调整后取样点的上方像素值。

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