[发明专利]用于闪存的寿命终止预测的方法和电子设备

说明书

技术领域

本发明一般地涉及存储器设备的领域，更具体地说，涉及闪存的寿命终止预测。

背景技术

闪存提供了非易失性存储器，其中闪存块(其包括多个位置)可通过闪速操作擦除。闪存包括单元，所述单元是用于存储信息的浮栅晶体管的阵列。传统上，每个单元中可以存储一位信息。但是，某些闪存设备(例如多单元存储器设备)可以在每个单元中存储多个位。闪存单元中存在的两种公知类型的电路是NAND和NOR。

目前，闪存受限于其有限的擦写周期次数。当前的闪存无法通知用户将要达到或已经超过它的擦写周期寿命。换言之，用户不能预测其闪存设备何时出现故障。当闪存设备出现故障时，该设备无法工作，并且存储在设备上的所有数据将丢失或损坏。在未被告知可能的设备故障的情况下，用户可能继续在闪存上存储重要信息，当闪存设备出现故障时这些信息将丢失。

因此，需要克服现有技术中存在的上述问题。

发明内容

简言之，根据本发明，公开了一种用于确定闪存的寿命终止阶段的方法、电子设备和计算机可读介质。所述方法包括检测与位于电子设备上的闪存关联的至少一个生命周期事件。然后递增与所述生命周期事件关联的计数器。根据所述计数器，确定一个生命周期事件的总出现次数。还确定至少一个给定阈值的总出现次数。将所述至少一个生命周期事件的所述总出现次数存储在所述闪存上。所述方法还包括判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值。至少部分根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段。将所述生命周期阶段与至少一个给定阈值关联。然后通知用户所述闪存的生命周期状态。

在另一个实施例中，公开了一种方法，其中第一电子设备可通信地连接到包括至少一个闪存的至少第二电子设备，所述方法用于确定所述闪存的寿命终止阶段。所述方法包括由所述第一电子设备检测与位于所述至少第二电子设备上的闪存关联的至少一个生命周期事件。所述第一电子设备可通信地连接到所述至少第二电子设备。递增与所述生命周期事件关联的计数器。根据所述计数器确定所述生命周期事件的总出现次数。将所述至少一个生命周期事件的所述总出现次数存储在所述闪存上。所述方法还包括判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值。至少部分地根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段，其中所述生命周期阶段与所述至少一个给定阈值关联。通知用户所述闪存的生命周期状态。

在另一个实施例中，公开了一种包括至少一个闪存模块的电子设备。所述电子设备包括至少一个闪存模块和可通信地连接到所述至少一个闪存模块的生命周期事件计数器。所述生命周期计数器检测与所述至少一个闪存模块关联的至少一个生命周期事件。所述生命周期计数器递增所述至少一个生命周期事件的生命周期计数。将所述生命周期计数存储在所述至少一个闪存模块上。所述电子设备还包括可通信地连接到所述生命周期计数器和所述至少一个闪存模块的生命周期阶段估计器。所述生命周期阶段估计器确定至少一个生命周期事件的总出现次数。

所述生命周期阶段估计器还判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值。所述生命周期阶段估计器至少部分根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段。将所述生命周期阶段与所述至少一个给定阈值关联。所述电子设备中还包括至少一个通知模块。所述至少一个通知模块通知用户所述闪存模块的生命周期状态。

在另一个实施例中，公开了一种用于确定闪存的寿命终止阶段的计算机可读介质。所述计算机可读介质包括用于检测与位于电子设备上的闪存关联的至少一个生命周期事件的指令。然后递增与所述生命周期事件关联的计数器。根据所述计数器，确定一个生命周期事件的总出现次数。还确定至少一个给定阈值的总出现次数。将所述至少一个生命周期事件的所述总出现次数存储在所述闪存上。所述方法还包括判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值。至少部分根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段。将所述生命周期阶段与至少一个给定阈值关联。然后通知用户所述闪存的生命周期状态。