[发明专利]测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统(Method andSystem for Testing SNR of DAC/ADC)，特别是涉及一种测试数字类比转换器(Digital Analog Converter，DAC)/类比数字转换器(Analog DigitalConverter，ADC)的信号噪声比(Signal Noise Ratio，SNR)的方法及系统。

背景技术

在类比电子技术及数字(数字即数位，本文均称为数字)电子技术都飞速发展的今天，大量的电子装置中都需要采用数字类比转换器(DAC)或类比数字转换器(ADC)。对于采用了数字类比转换器(DAC)/类比数字转换器(ADC)即DAC/ADC(数字类比转换器/类比数字转换器，以下均称为DAC/ADC)的电子装置而言，DAC/ADC的信号(信号即讯号，本文均称为信号)噪声比是决定其性能好坏的一个重要参数，因此，对DAC/ADC的信号噪声比的量测显得尤为重要。

然而，在先前现有技术中，信号噪声比的量测方法或系统仅能量测ADC(类比数字转换器)的信号噪声比，而且一般情形下，信号噪声比的量测系统无法自行提供用于量测的信号，而必须由外接的信号源提供。因此，先前现有技术的信号噪声比的量测方法或系统不仅无法提供对DAC/ADC的信号噪声比的量测，而且由于用来量测的信号必须自外接的信号源提供，从而造成对ADC的信号噪声比的量测也不方便，以及增加量测成本。

由此可见，上述现有的测试DAC/ADC(数字类比转换器/类比数字转换器)的信号噪声比的方法及系统在方法、系统的结构及使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及测试DAC/ADC的信号噪声比的系统又没有适切的方法及结构能解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及其专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统，能够改进一般现有的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法存在的缺陷，而提供一种新的测试DAC/ADC(数字类比转换器/类比数字转换器)的信号噪声比的方法，所要解决的技术问题是使其可以很简单的测量DAC(数字类比转换器)信号的噪声比，非常适于实用。

本发明的另一目的在于，克服现有的测试DAC/ADC的信号噪声比的系统存在的缺陷，而提供一种新的测试DAC/ADC的信号噪声比的系统，所要解决的技术问题是使其可以自行产生量测信号并分析量测结果，进而可以降低使用者操作的复杂程度，从而更加适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其包括以下步骤：输入交流图样信号至待测的DAC/ADC路径；计算所述DAC/ADC路径的输出信号的信号噪声比；以及判断所述信号噪声比是否符合规格。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其中所述的计算所述信号噪声比的步骤更包括：将所述DAC/ADC路径的输出信号分别经过带通滤波及带止滤波，以根据所述带通滤波的结果以及所述带止滤波的结果计算所述信号噪声比。

前述的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其中所述的输入交流图样信号之前，所述方法更包括：输入直流图样信号至待测的DAC/ADC路径；以及判断所述DAC/ADC路径是否有连线。

前述的测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其中所述的输入直流图样信号之前，所述方法更包括：执行偏移量误差校正；以及执行增益误差校正。