[发明专利]自动测试方法及其自动测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种自动测试装置与方法，特别是涉及一种利用按键排列方式来进行测试的测试装置与方法。

背景技术

随着科技的进步，现在电子装置的生产与使用的需求量也日益增加。由于电子装置的功能渐渐繁杂，使得在电子装置上按键数量也日趋繁多。一般而言，生产线上都要先对半成品的电子装置的按键进行测试以确定每个按键都能操作正常。但在现有技术当中，若在测试流程中要测试电子装置的按键是否都能够正常操作，通常是利用人工或是机器的方式，一个一个按键地去测试，接着再去观察其是否有正常的信号产生。如此一来，平均大约一秒钟才能测试一个按键。如果该项电子装置有16个按键，测试的时间就大约要花16秒左右。对于在一般生产线上的测试流程来说，会很耗费人力与时间。

因此需要发明一种新的测试装置与方法以解决现有技术所产生的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种自动测试装置，以达到快速测试电子装置的按键的效果。

本发明的另一主要目的在于提供一种自动测试装置测试电子装置的多个按键的自动测试方法。

为达到上述的目的，本发明的自动测试装置包括微控制芯片与按键连接电路。微控制芯片具有编码的功能，可以编辑不同的测试流程。按键连接电路包括多个缓冲器。微控制芯片与按键连接电路电性连接，用来控制按键连接电路内多个缓冲器。多个缓冲器再与电子装置中的多个按键电性连接。

本发明的自动测试方法为：传送一控制信号以导通第一纵向缓冲器与第一横向缓冲器；藉由第一纵向缓冲器传送一第一测试信号到该电子装置；藉由该第二缓冲器传送一第二测试信号到该电子装置；藉由该电子装置输出一正常的信号以代表该多个按键作用正常(functionally normal)；以及使该第一缓冲器与该第二缓冲器断路。

附图说明

图1是本发明的自动测试装置与一电子装置的连接示意图。

图2是本发明的自动测试方法的流程图。

主要组件符号说明：

自动测试装置10       微控制芯片20

按键连接电路30       第一纵向缓冲器31a

第二纵向缓冲器31b    第三纵向缓冲器31c

第四纵向缓冲器31d    第一横向缓冲器32a

第二横向缓冲器32b    第三横向缓冲器32c

第四横向缓冲器32d    电子装置90

多个按键B1～B16      行导线C1～C4

列导线R1～R4

具体实施方式

为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出本发明的具体实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

请先参考图1，图1是本发明的自动测试装置与一电子装置的连接示意图。

如图1所示，本发明的自动测试装置10与电子装置90电性连接，该自动测试装置10设有一微控制芯片20与一按键连接电路30，用来测试电子装置90中多个按键作用是否正常。而待测的电子装置90具有多个按键，例如智能型手机，但本发明并不以此为限。

其中电子装置90的多个的按键为键盘矩阵(Keyboard Matrix)的电路形式。键盘矩阵是由按键设置在行导线与列导线交错排列而成，每一行导线与列导线交错之处对应一按键。例如在本实施例中，电子装置90为具有16个按键B1～B16的电子装置，也就是由键盘矩阵的行导线C1～C4及列导线R1～R4交错排列成多个按键B1～B16。需注意的是，本发明的自动测试装置10所能测试的电子装置90并不以上述的按键数量及排列方式为限。

该微控制芯片20与该按键连接电路30电性连接。微控制芯片20可为一8051芯片，但本发明并不以此为限。微控制芯片20具有编码的功能，可以依照不同的测试流程进行不同的流程编码，并且可以进行优化处理，让测试流程有最短的执行时间。按键连接电路30包括了多个缓冲器，在本实施例中，按键连接电路30可以包括第一纵向缓冲器31a到第四纵向缓冲器31d及第一横向缓冲器32a到第四横向缓冲器32d。多个纵向缓冲器与多个横向缓冲器彼此之间互相电性连接。缓冲器的数量可以依照按键的数量及排列方式作改变。微控制芯片20与按键连接电路30电性连接，用来控制按键连接电路30内的多个缓冲器。多个缓冲器再与电子装置90中的多个按键电性连接。

每一纵向缓冲器与横向缓冲器都分别与行导线与列导线连接。例如在本实施例中，第一纵向缓冲器31a与键盘矩阵的行导线C1的B13、B9、B5及B1连接，第一横向缓冲器32a与键盘矩阵的列导线R1的B1、B2、B3及B4连接。