[发明专利]监测表面腐蚀的设备和方法无效

专利信息
申请号: 200710164131.3 申请日: 2007-09-30
公开(公告)号: CN101398369A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 芦继来;陈为国;张育;布莱恩·W·莱思克 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01N27/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 周少杰
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 监测 表面 腐蚀 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种监测表面腐蚀的设备,用于监测腐蚀性环境中零件的表面腐蚀情况,包括:一导电试样;一可以向所述导电试样传送变化的频率的电源装置;以及一个测量该导电试样在不同电流工作频率下阻抗的测量装置。

2.如权利要求1所述的监测表面腐蚀的设备,其中所述测量装置是指一种四线测量装置。

3.如权利要求1所述的监测表面腐蚀的设备,其中所述导电试样有至少一个面是密封而避免被腐蚀的。

4.如权利要求1所述的监测表面腐蚀的设备,其中所述导电试样的截面形状可以是矩形、圆形或椭圆形。

5.一种监测表面腐蚀的方法,包括:向一导电试样传输不同频率的电流,并测量该导电试样在所述不同频率下的阻抗,其中高频电流所测得的阻抗反映局部腐蚀的特征,而低频电流测得的阻抗反映全面腐蚀的特征。

6.如权利要求5所述的监测表面腐蚀的方法,其中对局部腐蚀和全面腐蚀状况的监测都利用了趋肤效应的现象。

7.如权利要求5所述的监测表面腐蚀的方法,进一步包括观察不同频率下测得的阻值,当电阻陡增时,相应的趋肤深度大致等于被测导体的高度的二分之一。

8.如权利要求5所述的监测表面腐蚀的方法,其中局部腐蚀是通过将测得的不同频率下导电试样的阻抗与一参考试样的阻抗比较而测得的。

9.如权利要求5所述的监测表面腐蚀的方法,其中所述在不同的频率下测量一导电试样的阻抗,电流工作频率是依据导电试样的材料和高度来选择的。

10.如权利要求9所述的监测表面腐蚀的方法,其中所述反应全面腐蚀的低频电流,其最低频率所对应的趋肤深度大于导电试样的厚度的二分之一。

11.如权利要求9所述的监测表面腐蚀的方法,其中所述反应局部腐蚀的高频电流,其最高频率所对应的趋肤深度不大于导电试样厚度的十分之一。

12.一种监测表面腐蚀的方法,包括:

向一导电试样内传输变化频率的电流;

测量多种频率下导入电流的各个阻抗并形成阻抗曲线图;

依据电流工作频率和导电试样的阻抗之间的关系建立有限要素模型;以及

依据有限要素模型和阻抗曲线图来评估局部腐蚀和全面腐蚀。

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