[发明专利]液晶显示屏测试连接装置及制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示屏测试领域，特别涉及液晶显示屏测试连接装置及其制作方法。

背景技术

目前点阵式液晶显示屏应用广泛，这种液晶显示屏电路高度密集，电路导线的最小间隔只有12微米，对ITO玻璃来料、制作过程环境中的灰尘颗粒、铬板的清洗、生产过程中的工艺控制要求严格，任一环节出现一点问题就会导致短断路缺陷。

为测试上述短断路缺陷，现有一种探针卡测试仪器，在液晶显示屏制作完成后，将液晶显示屏放在探针卡测试仪器上，使探针卡测试仪器的探针与液晶显示屏上的IC邦定引线接触导通，通过测试电路驱动液晶显示屏显示全屏和/或部分测试画面，检测测试画面是否缺划或不正常显示，从而判断液晶显示屏是否有短断路缺陷。此检测方法方便且直观，多种液晶显示屏只需更换探针卡即可共用测试电路，缺点是探针卡制作成本高，制作难度大，且与液晶显示屏的IC邦定引线接触的定位难度较大。

发明内容

本发明目的在于提供一种液晶显示屏测试连接装置，降低成本及制作难度，实现安全快捷检测液晶显示。

本发明提供一种液晶显示屏测试连接装置，与待测液晶显示屏和测试电路连接，实现对待测液晶显示屏测试，包括：至少一探头走线，分别与待测液晶显示屏的至少一走线对应，至少一探头走线分别与待测液晶显示屏的至少一走线建立电连接，向待测液晶显示屏传输测试电路发出的控制信号。

优选地，液晶显示屏测试连接装置包括基板和至少一触点，至少一探头走线分布在基板上，至少一触点分别固定在至少一探头走线的局部，与待测液晶显示屏的至少一走线对应。

优选地，至少一触点通过固化胶水固定在至少一探头走线上，固化胶水通过UV光照固化。

优选地，至少一触点为金球。

优选地，上述液晶显示屏测试连接装置还包括至少一测试对位标，至少一测试对位标与待测液晶显示屏的至少一对位标配合对位。

本发明还提供一种液晶显示屏测试连接装置制作方法，包括：印刷探头走线的步骤；布置至少一触点的步骤；和固定至少一触点，连接至少一触点与至少一探头走线的步骤。

优选地，印刷探头走线的步骤包括：根据待测液晶显示屏的至少一走线制作菲林的步骤；根据菲林，在基板上形成与至少一走线对应的探头走线的步骤。

优选地，布置至少一触点的步骤包括：根据菲林制作网版的步骤；根据网版在探头走线的局部涂覆胶水的步骤；在基板上洒布至少一触点，使至少一触点覆盖探头走线的步骤。

优选地，固定至少一触点，连接至少一触点与至少一探头走线的步骤包括：将至少一触点与局部涂覆胶水的探头走线压紧的步骤；使胶水固化，将至少一触点固定在探头走线上的步骤；清除未固定在探头走线上的至少一触点。

上述印刷探头走线的步骤还包括：根据待测液晶显示屏的至少一对位标，制作图形分别与至少一对位标对应的菲林的步骤；根据菲林，在基板上形成与至少一对位标对应的至少一测试对位标的步骤。

本发明提供的液晶显示屏测试连接装置及其制作方法发扬现有探针卡测试仪器检测方便直观、通用性强的优点，又解决了探针卡测试仪器制作成本高、难度大及定位难的缺点；操作简单、识别方便，便于生产工人使用；制作难度小，成本较低，尤其在液晶显示器制造工厂更为方便；进行短断路检测时，不需要金属探针与液晶显示屏的ITO走线进行直接接触，避免了金属探针划伤ITO走线的缺点；既可用于液晶显示屏的出货检测，也可用于液晶显示屏的来料检测，防止具有短路和/或断路缺陷的液晶显示屏流入下一工序或客户。

附图说明

图1是本发明第一实施例的液晶显示屏测试连接装置示意图；

图2是本发明第一实施例的液晶显示屏测试连接装置结构示意图；

图3是本发明第一实施例探头走线的结构示意图；

图4是本发明第三实施例的流程示意图；

图5是本发明第四实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

参照图1，示出本发明第一实施例的示意图，液晶显示屏测试连接装置2与待测液晶显示屏1贴合，液晶显示屏测试连接装置2通过导线3与测试电路4连接，使待测液晶显示屏1与测试电路4电连接。

测试电路4发出控制信号，驱动待测液晶显示屏1显示全屏和/或部分测试画面，检测测试画面是否缺划或不正常显示，从而判断待测液晶显示屏1是否有短断路缺陷。