[发明专利]用数字液体流量计改进低介电常数介质膜的初始层的方法无效
申请号: | 200710165136.8 | 申请日: | 2007-10-29 |
公开(公告)号: | CN101187011A | 公开(公告)日: | 2008-05-28 |
发明(设计)人: | 达斯廷·W·胡;胡安·卡洛斯·罗奇-阿尔维斯;亚历山德罗斯·T·迪莫斯;凯尔文·陈;纳加拉简·雷杰戈帕兰;维斯韦斯瓦伦·西瓦拉马克里史南 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/30 | 分类号: | C23C16/30;C23C16/448;C23C16/505 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字 液体 流量计 改进 介电常数 介质 初始 方法 | ||
1.一种沉积有机硅化介质层的方法,包括:
将衬底定位在具有电极的处理腔室中;
将一种或多种氧化气体流入处理腔室;
将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字液体流量计流到第一蒸发器注射阀;
将所述有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和第一载气流到所述处理腔室中;
保持第一有机硅流速以在RF电源存在下沉积初始层;
将孔原物化合物从第二大容量储存器中以第一孔原物流速经过第二数字流量计流到第二蒸发器注射阀;
将孔原物化合物蒸发并将该孔原物化合物和第二载气流到处理腔室中;
在RF电源存在下,增加第一有机硅流速和第一孔原物流速,同时沉积过渡层;以及
保持第二有机硅流速和第二孔原物流速以在RF电源存在下沉积含有孔原物的有机硅化介质层。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,保持所述第一有机硅流速1秒。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一孔原物流速是200mg/min~600mg/min。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有机硅化合物选自下述化合物组成的组,其是四甲基环四硅氧烷、八甲基环四硅氧烷、五甲基环五硅氧烷、六甲基环三硅氧烷、二乙氧基甲基硅烷、二甲基二硅氧烷、四硅氧基-2,6-二氧基-4,8-二亚甲酯、四甲基二硅氧烷、六甲基二硅氧烷、1,3-双(亚甲基硅)-二硅氧烷、双(1-甲基二硅氧基)甲烷、双(1-甲基二硅氧基)丙烷、六甲氧基二硅氧烷、二甲基二甲氧基硅烷和二甲氧基甲基乙烯基硅烷。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述孔原物化合物选自下述化合物组成的组:丁二烯、异戊二烯、环己二烯、双环庚二烯、1-甲基-4-(1-甲基乙基)-1,3-环己二烯、降冰片二烯、1-甲基-4-(1-甲基乙基)-苯、3-蒈烯、茴香酮、柠檬烯、环戊烯氧化物、乙烯基-1,4-二恶英醚、乙烯基呋喃基醚、乙烯基-1,4-二恶英、乙烯基呋喃、糠酸甲酯、甲酸呋喃酯、乙酸呋喃酯、糠醛、二呋喃基甲酮、二呋喃醚、二糠基醚、呋喃和1,4-二恶英。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述一种或多种氧化气体选自下述化合物组成的组,其是氧气、臭氧、一氧化二氮、一氧化碳和二氧化碳。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述有机硅化合物包括二乙氧基甲基硅烷以及所述孔原物化合物包括1-甲基-4-(1-甲基乙基)-1,3-环己二烯。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第一和第二载气分别选自氦气、氩气和二氧化碳。
9.一种沉积有机硅化介质层的方法,包括:
将衬底定位在具有电极的处理腔室中;
将一种或多种氧化气体流入处理腔室;
将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字液体流量计流到第一蒸发器注射阀;
将所述有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和第一载气流到处理腔室中;
保持第一有机硅流速约一秒钟以在RF电源存在下沉积初始层;
将孔原物化合物从第二大容量储存器中以第一孔原物流速经过第二数字流量计流到第二蒸发器注射阀;
将孔原物化合物蒸发并将该孔原物化合物和第二载气流到处理腔室中;
在RF电源存在下,增加第一有机硅流速和第一孔原物流速,同时沉积过渡层;以及
保持第二有机硅流速和第二孔原物流速以在RF电源存在下沉积含有孔原物的有机硅化介质层。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第一孔原物流速是200mg/min~600mg/min。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述第一孔原物流速以增速为400mg/min./sec~800mg/min./sec增加。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的