[发明专利]表面瑕疵检测方法及装置

权利要求书

1.一种表面瑕疵检测方法，包括以下步骤：

采集被检测物件图像；

根据采集的被检测物件图像对其进行二值化处理生成二值化图像；

对已经进行二值化处理的图像，根据设定的临界面积进行疑似瑕疵微粒 过滤处理；所述临界面积设定根据实验统计确定，其中较大临界面积选取 瑕疵点面积3～5倍的值为上临界值，较小临界面积选取瑕疵点面积1/3～ 1/2的值为下临界值；

将疑似瑕疵微粒的灰度平均值与所述被检测物件图像在二值化处理前所 述疑似瑕疵微粒出现的区域的灰度平均值进行比较，如果两者的差值在设定 的范围之内，则所述疑似瑕疵微粒为伪瑕疵微粒，如果二者的差值在所述设 定的范围之外，则所述疑似瑕疵微粒为瑕疵微粒。

2.一种表面瑕疵检测装置，其特征在于，包括：

光源，用于提供均匀光亮；

光源控制模块，该模块与光源连接，用于控制所述光源的亮度；

图像采集模块，用于采集图像信息，将采集的图像信号转换为电信号；

图像处理模块，该模块与所述图像采集模块连接，根据所述图像采集模 块采集的图像对其进行二值化处理生成二值化图像，对已经进行二值化处理 的图像，根据设定的临界面积进行疑似瑕疵微粒过滤处理，将疑似瑕疵微粒 的灰度平均值与被检测物件图像在二值化处理前所述疑似瑕疵微粒出现的区 域的灰度平均值进行比较，如果两者的差值在设定的范围之内，则所述疑似 瑕疵微粒为伪瑕疵微粒，如果二者的差值在所述设定的范围之外，则所述疑 似瑕疵微粒为瑕疵微粒；所述图像处理模块还用于存储图像处理程序及数据；

显示模块，该模块与图像处理模块连接，用于显示所述图像处理模块处 理的结果；

所述图像处理模块中的所述临界面积设定根据实验统计确定，其中较大 临界面积选取瑕疵点面积3～5倍的值为上临界值，较小临界面积选取瑕疵点 面积1/3～1/2的值为下临界值。

3.根据权利要求2所述的表面瑕疵检测装置，其特征在于，所述光源为 环形紫色光源。

4.根据权利要求2所述的表面瑕疵检测装置，其特征在于，所述图像采 集模块为相机。