[发明专利]记录关于一次写入记录介质的数据的设备

说明书

本申请是申请日为2004年4月29日、申请号为200480001415.5、发明名称为“记录和/或再现临时缺陷列表的方法以及记录和/或再现设备”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种一次写入记录介质，更具体地讲，涉及一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法、一种再现临时缺陷列表的方法、一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备、和一次写入记录介质。

背景技术

缺陷管理涉及当已经被记录在记录介质的产生缺陷的位置上的数据不能被正常再现时将该数据记录在该记录介质的另一位置上，从而防止由缺陷的产生引起的数据损失。

传统地，缺陷管理被分为使用线性替换方法的缺陷管理和使用滑移替换方法的缺陷管理。线性替换方法是用没有产生缺陷的数据区的备用区来替换产生缺陷的数据区。滑移替换方法不使用产生缺陷的数据区，并且滑移到并使用没有产生缺陷的下一数据区。

线性替换和滑移替换方法已经主要被应用于如DVD-RAM/RW(数字多用途盘-随机存取存储器/可重写)的盘，在其上数据可被重新记录并且允许通过随机存取来记录。

近来，几种解决方法已经被考虑以在一次写入记录介质中使用数据记录和/或再现设备执行缺陷管理，在该记录介质中一旦数据被写入则该数据不能被消除或擦除。

现在将对使用线性替换的一次写入记录介质的缺陷管理进行详细描述。从主机接收用户数据记录命令和用户数据的数据记录和/或再现设备以簇为单位记录用户数据，簇是数据记录单位。在数据记录和/或再现设备执行写入后检验(verify-after-write)操作之后，如果缺陷在记录用户数据的用户数据区的簇中产生，则数据记录和/或再现设备将用户数据记录在包括于数据区中的备用区中。

在当数据正被记录的预定时间间隔期间，或者在单一数据记录完成之后，数据记录和/或再现设备创建包含产生缺陷的用户数据区的簇的位置信息和记录在缺陷簇中的用户数据被重写在其上的备用区的替换簇的位置信息的临时缺陷列表(以下称为TDFL)。然后，数据记录和/或再现设备将创建的TDFL记录在临时盘管理区(以下称为TDMA)中。另外，在数据记录和/或再现设备将创建的TDFL记录在TDMA中之后，其记录指示记录TDFL的位置的指针信息。

当一次写入记录介质被重新装入记录和/或再现设备时，数据记录和/或再现设备从一次写入记录介质中读出TDFL，并且将读取的TDFL存储在存储器中。当另外的数据被记录在一次写入记录介质中时，如果产生新的缺陷簇，则数据记录和/或再现设备将记录在缺陷簇中的数据重写入备用区的替换簇中。其后，除存储在存储器中的TDFL之外，数据记录和/或再现设备创建包含新产生的缺陷簇的位置信息和相应于新产生的缺陷簇的替换簇的位置信息的更新的TDFL，记录更新的TDMA，并且记录指示记录更新的TDFL的位置的指针信息。

当为了再现用户数据，一次写入记录介质被装入数据记录和/或再现设备时，数据记录和/或再现设备首先访问TDMA，获得指示记录更新的TDFL的位置的指针信息，并且获得更新的TDFL。数据记录和/或再现设备能够随后通过参照更新的TDFL无错误地再现用户数据。

如上所述，由于TDFL是用于用户数据再现的关键信息，所以TDFL应被高可靠性地记录。因此，在记录TDFL期间，写入后检验操作以与用户数据的记录期间相同的方式来被执行。因此，如果缺陷簇被产生，则记录在缺陷簇中的数据被重写入TDMA的另一簇中。

根据现有技术，如果TDFL的大小相应于至少两个簇并且TDFL被记录在至少两个簇中，则写入后检验操作被执行，并且如果缺陷簇被产生，则TDFL被重写入其他簇中。然而，TDMA小于数据区，并且可被存储在TDMA中的数据量不大。因此，当根据现有技术对TDFL执行缺陷管理时，TDMA被快速用尽。

发明内容

技术解决方案

本发明一方面在于提供一种用于以高可靠性和为记录TDFL分配的区域的改进利用将TDFL记录在一次写入记录介质中的方法和设备。

本发明一方面在于提供一种用于再现以高可靠性和为记录TDFL分配的区域的改进利用记录在一次写入记录介质上的TDFL的方法和设备。

本发明一方面在于提供一种以高可靠性和为记录TDFL分配的区域的改进利用存储TDFL的一次写入记录介质。

有益效果