[发明专利]记录关于一次写入记录介质的数据的方法有效
| 申请号： | 200710167067.4 | 申请日： | 2004-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN101145373A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 黄盛凞;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/007;G11B7/0037 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;韩素云 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 记录 关于 一次 写入 介质 数据 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于记录关于一次写入记录介质的数据的方法，该方法包括：
将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的多个簇中，并检验在至少一簇中是否产生缺陷；
将记录在缺陷簇中的数据记录在替换簇中；
将指示替换簇和除缺陷簇之外的所述多个簇的位置的信息记录在临时盘定义结构中。
2.如权利要求1所述的方法，其中，临时缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和替换簇的位置信息。
3.如权利要求1所述的方法，其中，记录并检验的步骤包括：以簇为单位记录并检验临时缺陷列表。
4.如权利要求1所述的方法，其中，临时缺陷列表和临时盘定义结构被记录在设置在一次写入记录介质上的临时盘管理区中。
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