[发明专利]顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统

说明书

相关申请的交叉参考

本申请要求于2006年10月18日向韩国专利局提交的韩国专利申请No.10-2006-0101559的优先权，通过参考将其整个公开合并于此。

技术领域

本发明总体涉及半导体器件，更具体地说，本发明涉及半导体器件中的熔丝测试。

背景技术

在半导体器件中利用熔丝来执行诸如控制半导体器件的特定DC电压的输出之类的各种功能。这些功能的适当执行很大地依赖于所选择的熔丝的精确切断以创造所需要的开路条件。如果没有将所选择的熔丝可靠或者准确地切断，则半导体器件可能遭受到性能下降的影响。

发明内容

根据本发明的方面，提供半导体器件，其包括多个熔丝和与多个熔丝分别地电连接的多个锁存电路。将多个锁存电路进行配置以存储来自多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后通过锁存电路顺序地将该熔丝切断信息进行传送以输出指示多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据。

根据本发明的另一个方面，提供半导体器件，其包括每个都包括至少一个熔丝的第一到第n熔丝组和第一到第n锁存器，其中n是正整数。第一到第n熔丝组输出指示相应至少一个熔丝是否处于切断状态中的第一到第n熔丝切断信息。第一到第n锁存器分别锁存从相应第一到第n熔丝组输出的第一到第n熔丝切断信息。将第一到第n锁存器配置为选择性地传送第一到第n熔丝切断信息，以从第n锁存器顺序输出。

根据本发明的再一个方面，提供测试系统，其包括多个熔丝、多个锁存电路和测试设备。将多个锁存电路相应电连接到多个熔丝，并且配置为存储来自多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后通过锁存器顺序传送熔丝切断信息以输出指示多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据。测试设备基于指示多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据来输出熔丝切断错误信息。

附图说明

参照附图，从下面的详细说明中，本发明的上面和其他方面和优点将变得显而易见，其中：

图1是根据本发明实施方式的半导体器件的框图；

图2是根据本发明实施方式的图1中所示的半导体器件的电路图；和

图3是用于说明根据本发明实施方式的图1中所示的半导体器件的时序图。

具体实施方式

下面，将参照附图来详细描述本发明的示例和非限制性实施方式。在全部附图中，类似的附图标记指示类似的元件。

图1是根据本发明实施方式的半导体器件100的框图。如图所示，本例的半导体器件100包括熔丝单元110、多个复用器MUX<2:n>、锁存器单元150和比较器190。

熔丝单元110包括多个(n)熔丝组110_<1:n>，其每一个都包括一个或多个熔丝。为了便于说明，将参照图2在后面显示例子，其中每个熔丝组110_1、110_2、...、110n包括单个熔丝。熔丝组110_<1:n>输出指示是否已经切断了其熔丝的相应熔丝信息FINFO[<1:n>]。例如，当对应熔丝组110的熔丝已经被切断时熔丝信息FINFO可以是第一电压，而当该熔丝没有被切断时是第二电压。

还参照图1，锁存器单元150包括多个(n)锁存器150_<1:n>。将锁存器150_<1:n>中的每一个的输出进行连接以从熔丝组110_<1:n>接收相应的熔丝信息FINFO[<1:n>]。

在图1的示例中，锁存器150_<1:n>通过复用器MUX<2:n>串连。

更具体地说，每个复用器MUX<m>(其中m等于2到n)具有连接到锁存器150_<m-1>的输出的一个输入(“0”)，和连接到锁存器150_<m>的输入的输出。每个复用器MUX<m>的另一个输入(“1”)连接到熔丝组110_<m>的输出。

每个复用器MUX<m>响应于扫描允许信号SCAN_EN将熔丝切断信息FINFO<m>或者顺序在前的锁存器150_<m-1>的输出施加到对应锁存器150_<m>的输入。进一步，锁存器150_<1:n>的每一个响应于扫描时钟信号SCAN_CLK的激活将其输入锁存到其输出。