[发明专利]感应式位置-或角度测量装置有效

专利信息
申请号: 200710169148.8 申请日: 2007-11-21
公开(公告)号: CN101275857A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 马库斯·艾斯纳;米夏埃尔·施赖伯;约瑟夫·哈本沙登 申请(专利权)人: 切瑞有限公司
主分类号: G01D5/20 分类号: G01D5/20;G01D5/249
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 德国奥*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 感应 位置 角度 测量 装置
【权利要求书】:

1、带有两个或多个数字振荡器的感应式位置-或角度测量装置,振荡器至少含有一个测量线圈(I、II、III、IV),

第一类振荡器作为测量振荡器包含一个测量线圈(I,II,III,IV),通过一个运动测量元件产生的依赖于测量线圈和测量元件之间覆盖程度的自感改变,可改变测量振荡器的脉冲频率(f作为s的函数;F Mess),

第二类振荡器作为测量-或基准振荡器包含一个测量-或基准线圈(I,II,III,IV),其中基准线圈由以下方式定义,它要么被测量元件完全覆盖,要么完全不被覆盖,这样附属基准振荡器(Ref-High;Ref-Low)的脉冲频率(f作为h的函数;f作为T的函数)不依赖于覆盖程度,

此外还带有一个数字计算回路,脉冲频率(f;F)在里面被计数和计算。

2、如权利要求1所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:计算回路的计算借助于一个系统频率(F Sys)提供的时钟信号,此时钟信号源自于其中一个振荡器的脉冲频率(F Low)。

3、如权利要求1或2中任一项所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:在数字计算回路中被计数的脉冲频率(F Mess,F Ref,F High,F Low)被成对计算。

4、如权利要求1到3中任一项所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于至少有一个基准线圈(I、II、III、IV)。

5、如权利要求4所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:作为低频基准振荡器(Ref Low)的一个第二类振荡器包含一个不被运动测量元件覆盖的基准线圈(I、II、III、IV),这样低频基准振荡器(RefLow)的一个脉冲频率(f作为T的函数;F Low)可用于补偿影响频率的参量例如环境温度(T)和零件老化。

6、如权利要求4所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:作为高频基准振荡器(Ref High)的一个第二类振荡器包含一个被运动测量元件覆盖的基准线圈(I、II、III、IV),这样高频基准振荡器(Ref High)的一个脉冲频率(f作为h的函数;F High)可用于补偿线圈(I、II、III、IV)到测量元件的间隔高度(h)的不希望发生的变化。

7、如权利要求4所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:

作为低频基准振荡器(Ref Low)的一个第二类振荡器包含一个不被运动测量元件覆盖的基准线圈(I、II、III、IV),这样低频基准振荡器(RefLow)的一个脉冲频率(f作为T的函数;F Low)可用于补偿影响频率的参量例如环境温度(T)和零件老化,

作为高频基准振荡器(Ref High)的另一个第三类振荡器包含一个被运动测量元件覆盖的基准线圈(I、II、III、IV),这样高频基准振荡器(RefHigh)的一个脉冲频率(f作为h的函数;F High)可用于补偿线圈(I、II、III、IV)到测量元件的间隔高度(h)的不希望发生的变化。

8、如权利要求1所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:作为高频基准振荡器的第二类振荡器和一个第三类振荡器总是包含一个被运动测量元件完全覆盖的基准线圈,这样高频基准振荡器的脉冲频率可用于补偿线圈到测量元件的间隔高度的不希望发生的变化,以及补偿测量元件在测量方向上不希望发生的倾斜。

9、如权利要求8所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:作为高频基准振荡器的一个第四类振荡器包含一个被运动测量元件完全覆盖的基准线圈,这样此高频基准振荡器的脉冲频率可用于补偿线圈到测量元件的间隔高度的不希望发生的变化,以及补偿测量元件在任意方向上不希望发生的倾斜。

10、如权利要求1所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:

在测量元件运动方向上这样先后安装有两个测量线圈,即其中一个测量线圈的覆盖部分增大时,另外一个测量线圈的覆盖感应减小,这样用于计算的脉冲频率会反向变化。

11、如权利要求9所述的感应式位置-或角度测量装置,其特征在于:

测量线圈和一个不被覆盖的基准线圈的脉冲频率被计算尤其是相减后得到一个测量结果,在此结果中影响频率的参量例如环境温度和零件老化已被补偿。

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