[发明专利]用于检测涂层的系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于检测物体上的涂层的系统和方法，更具体地说，本发明涉及能够检测磁头上的涂层的系统和方法。

背景技术

在计算机工业中，基于磁头的系统作为有成本效益的数据存储形式已经被广泛接受。在磁带驱动系统中，越过磁性读/写变换器牵拉包含沿着带的长度方向延伸的多个横向定位(laterally positioned)的数据轨道的磁带，称作磁带头。当在磁带头和磁带之间出现相对运动时，磁带头可以沿着磁带表面的长度记录和读取数据。

在磁记录系统中，磁头和记录介质的相互机械作用是确定系统性能和可靠性的重要因素。理想地，磁头与移动的记录介质接触或者亲密接触以优化读/写操作。在磁头/介质界面处的接触导致磨损，这是影响磁头和介质性能和寿命的主要关注点。

磁带头上可以具有保护涂层，以保护读/写元件使其免受磨损、腐蚀、短路、不良操作等的影响。在磁带头制造阶段，为了可靠性，优选确定磁带头是否已经被适当涂覆。同样地，在磁带头失效分析和诊断分析过程中，也希望确定保护涂层是否保留在磁带头上，或许，如果这样的话，确定涂层保留的程度。

因此，希望具有一种检测磁带头上是否具有保护涂层的系统和方法。然而，由于大部分涂层仅几十埃厚，检测这种涂层非常困难。例如，光干涉测量法不能解决涂层的表面和底层的头表面。螺旋材料分析(Augermaterials analysis)不能辨别碳的顶层是来源于环境还是保护涂层。其它方法例如纳米压痕、聚焦的离子束(FIB)分析等是破坏性的，并且不总是确定的。

发明内容

根据本发明一个实施例，一种用于检测磁头上涂层存在的方法，包含：使磁头表面上的多个点与导电物体接触；确定在导电物体和磁头表面上的一个或者多个点之间是否进行了电连接。

根据本发明另一个实施例，一种用于检测磁头上涂层存在的方法，包含：使磁头表面上的多个点与导电物体接触；确定在导电物体和磁头表面上的任何点之间进行电连接的程度。

根据本发明再一个实施例，一种用于检测物品的导电表面上的电绝缘涂层存在的方法，包含：使物品的多个点与原子力显微镜的触针接触；确定该物品的导电表面和触针之间是否电连接。

根据本发明的一个实施例，一种用于检测磁头上涂层存在的系统，包含：用于接触磁头表面上的多个点的导电物体；和用于检测导电物体和磁头表面上的一个或者多个点之间是否电连接的监视设备。

通过下面结合附图的详细描述，本发明的其它方面和优点将是显而易见的，下面通过举例说明本发明的原理。

附图说明

为了更完全地理解本发明的特性和优点，以及使用的优选模式，应该接合附图阅读下面的详细描述。

图1示出了根据本发明一个实施例的用于检测物品例如磁头上涂层的存在的系统。

具体实施方式

下面的描述是目前构想的实施本发明的最佳实施例。该描述是用于说明本发明的一般原理，并不意味着限制这里所要求的发明理念。

本说明书公开了一种用于检测物品例如磁头(但不限于磁头)上涂层存在的系统和方法。在具体的优选实施例中，本发明包含用于检测磁头的读取器和伺服元件上的保护涂层的系统和方法。

图1图示了用于检测物品102(例如磁头)上涂层存在的系统100。如图所示，系统100包含用于接触物品102表面上多个点的导电物体104；和用于检测导电物体104和物品102表面上一个或者多个点之间是否电连接的监视设备106。在一种操作模式中，涂层是电绝缘的，电流源耦接到该系统或者物品，使得物品表面和导电物体之间的电接触在其间产生可监视的电流流动，就表示缺失电绝缘涂层。

物品102可以是任何类型的物品，很快将清楚，本发明的一些实施例允许检测非常小的物品上和/或跨越非常小的区域的涂层。