[发明专利]缺陷数据实时采集装置及其方法、生产线实时数据采集系统有效

专利信息
申请号: 200710176496.8 申请日: 2007-10-29
公开(公告)号: CN101158859A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 丁国兴;杨祥春;王洪涛 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G05B19/048 分类号: G05B19/048
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 518057广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 数据 实时 采集 装置 及其 方法 生产线 系统
【权利要求书】:

1.一种缺陷数据实时采集装置,用于对生产线实时数据采集系统的缺陷数据进行实时采集处理,所述系统包括分布式控制机、数据采集终端,其特征在于,所述装置包括:

通讯接口模块,用于与所述分布式控制机之间的数据交互提供通讯控制及物理链路;

MCU控制模块,用于对所述装置进行整体控制,读取缺陷数据,并通过所述通讯接口模块与所述分布式控制机进行数据交互;及

数据处理模块,用于根据所述MCU控制模块下发的控制命令,对所述数据采集终端传送的缺陷数据进行实时处理并存储;

所述系统对所述分布式控制机从所述MCU控制模块读取的缺陷数据进行分析,获知实时的生产信息。

2.根据权利要求1所述的缺陷数据实时采集装置,其特征在于,所述数据处理模块又包括:

去抖模块,用于消除所述缺陷数据的电脉冲信号的抖动干扰;

容错模块,用于消除经所述去抖模块处理后的缺陷数据中的输入错误;

计数模块,用于统计经所述容错模块处理后的缺陷数据的数据量;及

存储模块,用于将经所述计数模块统计后的缺陷数据存储在寄存器中。

3.根据权利要求2所述的缺陷数据实时采集装置,其特征在于,所述装置还包括:光藕信号隔离单元,用于对所述数据采集终端传送的所述缺陷数据进行隔离处理,去除所述缺陷数据中的干扰信号,再将处理后的缺陷数据传送到所述数据处理模块。

4.根据权利要求1、2或3所述的缺陷数据实时采集装置,其特征在于,所述装置还包括:告警模块,用于当所述缺陷数据的数量超过所述寄存器的最大值和/或所述装置出现故障时,根据所述MCU控制模块下发的告警信号进行报警。

5.一种缺陷数据实时采集方法,用于通过缺陷数据实时采集装置对生产线实时数据采集系统的缺陷数据进行实时采集处理,其特征在于,该方法包括:

缺陷数据采集步骤,由数据处理模块接收MCU控制模块下发的控制命令,对数据采集终端传送的缺陷数据进行实时处理并存储;及

缺陷数据上报步骤,由所述系统对从所述MCU控制模块读取的缺陷数据进行分析,获知实时的生产信息。

6.根据权利要求5所述的缺陷数据实时采集方法,其特征在于,所述缺陷数据采集步骤之前,进一步包括:由所述MCU控制模块进行系统初始化后,对所述装置进行初始化的步骤。

7.根据权利要求5或6所述的缺陷数据实时采集方法,其特征在于,所述缺陷数据采集步骤中,进一步包括:由所述数据处理模块对所述数据采集终端传送的缺陷数据进行干扰信号隔离、抖动干扰消除、容错及计数处理后,存入寄存器的步骤。

8.根据权利要求7所述的缺陷数据实时采集方法,其特征在于,所述缺陷数据上报步骤中,进一步包括:当所述MCU控制模块接收到所述系统的分布式控制机发送的读取缺陷数据命令时,所述MCU控制模块从所述寄存器读取所述缺陷数据,将所述寄存器清零,并将所述缺陷数据解释成所述分布式控制机识别的协议后,发送至所述分布式控制机的步骤。

9.一种生产线实时数据采集系统,包括分布式控制机、缺陷数据实时采集装置、数据采集终端,其特征在于,所述装置又包括:

通讯接口模块,用于为所述装置与所述分布式控制机之间的数据交互提供通讯控制及物理链路;

MCU控制模块,用于对所述装置进行整体控制,读取缺陷数据,并通过所述通讯接口模块与所述分布式控制机进行数据交互;及

数据处理模块,用于根据所述MCU控制模块下发的控制命令,对所述数据采集终端传送的缺陷数据进行实时处理并存储;

所述系统对所述分布式控制机从所述MCU控制模块读取的缺陷数据进行分析,获知实时的生产信息。

10.根据权利要求9所述的生产线实时数据采集系统,其特征在于,所述系统还包括:

远程服务器,用于从所述分布式控制机获取所述缺陷数据,并对所述缺陷数据进行存储、分析和/或生成生产信息报表;

显示模块,用于实时显示所述分布式控制机分析所述缺陷数据所得到的生产信息;及

管理报表查询终端,用于接收所述远程服务器的控制命令,根据所述控制命令查询生产信息和/或打印生产信息报表。

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