[发明专利]一种提高坡莫合金薄膜磁电阻变化率的方法无效

专利信息
申请号: 200710177706.5 申请日: 2007-11-20
公开(公告)号: CN101148754A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 滕蛟;王乐;张金中;王东伟;于广华 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54;C23C14/06;C23C14/58
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 合金 薄膜 磁电 变化 方法
【权利要求书】:

1.一种提高坡莫合金薄膜磁电阻变化率方法,采用磁控溅射方法,溅射室本底真空度为1×10-5-5×10-5Pa,溅射时氩气气压为0.2-0.4Pa;平行于基片方向加有150-250Oe的磁场,在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上依次沉积钽Ta、镍铁NiFe、钽Ta,并将样品在真空退火炉中进行退火,其特征在于将CoFe纳米氧化层插入Ta/NiFe和NiFe/Ta界面,沉积的顺序依次是20-60钽Ta、10-50钴铁CoFe纳米氧化层、100-300镍铁Ni81Fe19、10-50钴铁CoFe纳米氧化层(NOL)和20-60钽Ta,退火温度为150-400℃,保温时间为60-180分钟。

2.如权利要求1所述的一种提高坡莫合金薄膜磁电阻变化率的方法,其特征是所述的CoFe纳米氧化层是在基片上先溅射一层10-50的CoFe,然后往真空室中通入纯度为99.99%的氧气,使CoFe氧化,氧化时氧气的气压为0.1-0.3Pa,氧化时间为10-50分钟。

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