[发明专利]一种半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置无效
申请号: | 200710178323.X | 申请日: | 2007-11-28 |
公开(公告)号: | CN101447396A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 刘茂哲;高超群;李金宝;景玉鹏;李超波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/306 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 制冷 临界 二氧化碳 清洗 装置 | ||
1、一种半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,该装置包括:
超临界清洗室,用于硅片的清洗,由高压反应室(4)和温度控制室(5)组成;其中,所述高压反应室(4)位于温度控制室(5)的上方,用于盛放硅片支架,提供二氧化碳气化清洗的反应室;温度控制室(5)通过蒸发器盘管与高压反应室(4)相连,实现高压反应室(4)的制冷和加热;
分离减压室(6),通过管道与高压反应室(4)相连,用于减压后将醇类与二氧化碳分离,并循环使用;
所述超临界清洗室与分离减压室(6)通过支座台(2)固定连接。
2、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)与二氧化碳气瓶相连,且高压反应室(4)的外壁上安装有半导体制冷环(201)。
3、根据权利要求2所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述半导体制冷环焊接在高压反应室(4)的外壁。
4、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)顶部安装有高压盖(1),用于密封高压反应室,符合中国压力标准。
5、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)底部安装有进口电磁阀(401),出口电磁阀(402),温度传感器(11),压力传感器(10);其中,
进口电磁阀(401)和出口电磁阀(402)用于控制二氧化碳的进出;
温度传感器(11)用于测试和控制高压反应室(4)内的温度;
压力传感器(10)用于测试和控制高压反应室(4)内的压力。
6、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)内部设置有硅片支架,在高压反应室(4)的底部绕贴有加热电阻丝。
7、根据权利要求1至6中任一项所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)为不锈钢材料制成的圆柱体,采用符合中国标准的压力容器,增强装置的安全性。
8、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述温度控制室(5)上安装有控制面板(9),用于显示和控制温度,并且显示高压反应室(4)内的压力,该控制面板(9)与温度控制室(5)相连。
9、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述分离减压室(6)接有进气管和减压排气管(8),其中,进气管用于连接高压反应室(4)与分离减压室;减压排气管(8)用于排除残余液体和气体。
10、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,该装置由继电器温度压力传感器及阀门控制自动运行,并设置有安全自锁机能。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造