[发明专利]一种半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置无效

专利信息
申请号: 200710178323.X 申请日: 2007-11-28
公开(公告)号: CN101447396A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 刘茂哲;高超群;李金宝;景玉鹏;李超波 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/306
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 制冷 临界 二氧化碳 清洗 装置
【权利要求书】:

1、一种半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,该装置包括:

超临界清洗室,用于硅片的清洗,由高压反应室(4)和温度控制室(5)组成;其中,所述高压反应室(4)位于温度控制室(5)的上方,用于盛放硅片支架,提供二氧化碳气化清洗的反应室;温度控制室(5)通过蒸发器盘管与高压反应室(4)相连,实现高压反应室(4)的制冷和加热;

分离减压室(6),通过管道与高压反应室(4)相连,用于减压后将醇类与二氧化碳分离,并循环使用;

所述超临界清洗室与分离减压室(6)通过支座台(2)固定连接。

2、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)与二氧化碳气瓶相连,且高压反应室(4)的外壁上安装有半导体制冷环(201)。

3、根据权利要求2所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述半导体制冷环焊接在高压反应室(4)的外壁。

4、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)顶部安装有高压盖(1),用于密封高压反应室,符合中国压力标准。

5、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)底部安装有进口电磁阀(401),出口电磁阀(402),温度传感器(11),压力传感器(10);其中,

进口电磁阀(401)和出口电磁阀(402)用于控制二氧化碳的进出;

温度传感器(11)用于测试和控制高压反应室(4)内的温度;

压力传感器(10)用于测试和控制高压反应室(4)内的压力。

6、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)内部设置有硅片支架,在高压反应室(4)的底部绕贴有加热电阻丝。

7、根据权利要求1至6中任一项所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述高压反应室(4)为不锈钢材料制成的圆柱体,采用符合中国标准的压力容器,增强装置的安全性。

8、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述温度控制室(5)上安装有控制面板(9),用于显示和控制温度,并且显示高压反应室(4)内的压力,该控制面板(9)与温度控制室(5)相连。

9、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,所述分离减压室(6)接有进气管和减压排气管(8),其中,进气管用于连接高压反应室(4)与分离减压室;减压排气管(8)用于排除残余液体和气体。

10、根据权利要求1所述的半导体制冷的超临界二氧化碳清洗装置,其特征在于,该装置由继电器温度压力传感器及阀门控制自动运行,并设置有安全自锁机能。

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