[发明专利]基于采样光栅的二维编解码器的制作方法无效

专利信息
申请号: 200710178610.0 申请日: 2007-12-03
公开(公告)号: CN101169502A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 张邺;陈宏伟;季恒;司治建;谢世钟 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G02B6/34 分类号: G02B6/34;H04B10/12;H04J14/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 采样 光栅 二维 编解码器 制作方法
【权利要求书】:

1.基于采样光栅的二维编解码器的制作方法,其特征在于,依次含有以下步骤:

步骤(1):对单根单模光纤进行载氢处理并剥去一段涂覆层;

步骤(2):把步骤(1)所述单模光纤固定在均匀模板后,使之贴近;

步骤(3):调整200nm~350nm的激光器,使之输出约为50mW的光功率;

步骤(4):调整光路,使经扫描反射镜反射的光斑照射在所述的光纤纤芯上;

步骤(5):打开微机的扫描移动平台以及激光器控制程序,输入设定的以下参数,控制采样周期,使得即将制成的一根光纤光栅分为采样周期各不相同的几个光纤光栅段,不同的采样点的位置,产生在时域和频域不同的二维编解码器,在进行光通信时,每段的位置会产生相应的光延迟,对应于时域上的编码,而不同的采样周期选择对应于频域上不同的波长,二者成反比,根据波长的有和无,相当于0信号和1信号,从而实现频域上的编码,从而实现在频域和时域上的二维编码和解码:

Pk:采样周期,光纤光栅段不同,采样周期就不同,其数值决定了频域编码的波长;

Zk:采样点的位置,其间隔即为采样周期;

Ak:采样点的曝光强度,即曝光时间,在1分钟~100分钟;

Zk,j=Pk×(j+sign/2);

其中,Zk,j为第k个时隙的第j个采样点,Pk为第k个时隙的采样周期,相位取0时sign=0,相位取π时sign=1。

2.根据权利要求1所述的基于采样光栅的二维编解码器的制作方法,其特征在于,所述单模光纤光栅的长度在1cm~100cm间。

3.根据权利要求1所述的基于采样光栅的二维编解码器的制作方法,其特征在于,所述单模光纤光栅是一个4波长、15个时隙的采样光栅,长度为13.6cm。

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