[发明专利]基于软件的事件顺序记录系统的测试接口

说明书

背景技术

本发明一般地涉及事件顺序记录系统的测试和校验，特别地，涉及基于软件的事件顺序记录系统的测试和校验。

公知的事件顺序记录器一般至少包括一个存储器和一个控制器，例如可编程逻辑控制器，用于在系统处理期间记录事件。例如，在操作过程或系统启动过程中记录事件。

一般地，外部硬件或电子模块用于检测和记录事件顺序记录器输入通道状态的变化。公知的用于校验事件顺序记录器的精确功能性的外部硬件和电子模块是昂贵的，可能增加这些记录器的总成本。进一步的，最公知的事件顺序记录系统使用特别设计的硬件模块执行信号检测，这也会增加成本。

一些公知的事件顺序记录系统使用软件检测和记录输入通道状态的变化。然而，对于制造和供电系统应用，公知的基于软件的事件顺序记录系统一般使消费者感到不可靠和不够健壮。另外，基于软件和基于硬件的事件顺序记录系统都被限定到相对小数量的输入，从16到32个输入。

发明内容

一方面，提供用于校验基于软件的事件顺序记录器的可靠性和健壮性的方法。该方法包括向基于软件的事件顺序记录器传输许多的精确信号，检测和记录许多的电压变化以及比较所述精确信号的数量和所述电压变化的数量。

另一方面，事件顺序测试接口包括一个电路，该电路包括多个电子设备和多个程序。当执行多个程序中的每一个时，使得该电路在输出通道间产生具有一毫秒的许多精确信号。

再一方面，提供用于校验事件顺序记录器的正确工作和同步的事件顺序记录器测试系统。该系统包括一个电路，该电路包括多个电子设备和多个程序，以及该系统还包括包含控制器和存储器的事件顺序记录器。事件顺序记录器耦合到所述电路，使得当多个程序中的一个被选择时定义时间戳数据库。

附图说明

图1是代表性的电子电路的示意图；

图2是使用图1中电子电路的事件顺序记录器的控制逻辑的结构图；

图3是详细说明图2中存储器的结构图；

图4是说明使用事件顺序测试接口创建时间戳数据库的代表性方法的流程图。

具体实施方式

图1是代表性的电子电路的示意图，也是事件顺序(SOE)测试接口10。在代表性实施例中，SOE测试接口10包括印刷电路板(PCB)12，多个电子设备安装在其上。更具体地，SOE测试接口10包括电源14、第一调压器17、第二调压器18、开关20、按钮开关22、微处理器24、16兆赫AT切割晶体26、多个CMOS光隔离器28、多个电阻器网络30、连接器32、LED33以及另一个光隔离器34。

在代表性实施例中，电源14是连接到装配于PCB12上的接线盒36的24伏电源。接线盒36是绝缘底座，具有8个接线端用于利用电导线连接到其它电子设备。电源14包括两根电线，一根电线耦合到接线盒36的接线端38，另一根电线耦合到接线盒36的接线端40。将电源14耦合到接线端38和40为SOE测试接口10提供功率，并通过二极管42提供反极性二极管保护。应当理解的是，电源14可以是任何使SOE测试接口按此处所描述的来工作的电源。

在代表性实施例中，第一和第二调压器17和18分别地可以是使SOE测试接口10按此处所描述的来工作的任何为本领域的技术人员所熟知的调压器。另外，第一和第二调压器17和1 8的每一个分别包括绿色发光二极管(LED)44和46。第一个和第二调压器17和18分别地用于提供+15伏和+5伏调整电压。

在代表性实施例中，开关20是旋转的BCD开关，并且开关22是SPST按钮开关。开关20用于从多个程序中选择程序，并且开关22用于输入新的程序选择并激活微处理器24。应当理解的是，在其它实施例中，开关20和22可以是使SOE测试接口10能够按此处所描述的来工作的任何类型的开关。

在代表性实施例中，微处理器24可包括任何可编程系统，可编程系统包括使用微控制器的系统、精简指令集计算机(RISC)、特定用途集成电路(ASIC)、逻辑电路、以及能够执行此处所描述功能的任何其它电路或处理器。微处理器24例如可以是ATMEL ATMEGA16-16PC RISC微处理器。以上的实例仅用于示范，并没有试图以任何方式限定术语“微处理器”的定义和/或意义。应当理解的是，微处理器24包括用于存储SOE测试接口10执行的程序的非易失性存储部分27，以及也一般地控制SOE测试接口10。应当理解的是，16-兆赫AT切割晶体26为微处理器24提供振荡器频率，并且可提供任何使SOE测试接口10按此处所述的来工作的任何频率。