[发明专利]校正装置

权利要求书

1.一种量测装置的校正方法，其特征在于：包含下列步骤：

提供一校正装置，可由一量测装置得到一第一校正讯号及一第二校正讯号；

该校正装置将该第一校正讯号及该第二校正讯号转换成一第一数值及一第二数值；

该校正装置利用该第一数值及该第二数值得到一第一线性方程式；

该校正装置可利用该量测装置得到一第二线性方程式；以及

该校正装置利用该第一线性方程式及该第二线性方程式得到一转换方程式，其中当该校正装置由该量测装置得到一量测讯号时，可利用该转换方程式得到一校正的量测值。

2.一种校正装置，其特征在于：包含：

一控制单元，

一运算放大器，可接收一模拟讯号，并将该模拟讯号放大；

一模拟数字转换单元，耦接该运算放大器，将放大该模拟讯号转换成一数字讯号；

一运算单元，耦接该模拟数字转换单元以接收该数字讯号，且耦接该控制单元，其中该控制单元可控制该运算单元以进入一校正模式，使得该运算单元可利用接收自该模拟数字转换单元的二校正讯号而得到一第一线性方程式，且可利用一量测装置得到一第二线性方程式，该运算单元利用该第一线性方程式及该第二线性方程式可得到一转换方程式，当该运算单元离开该校正模式之后，该运算单元可接收一来自该模拟数字转换单元的一量测讯号，利用该转换方程式转换该量测讯号而得到一校正的量测值。

3.按照权利要求2所述的校正装置，其特征在于：所述的控制单元包含一操作按键。

4.按照权利要求2所述的校正装置，其特征在于：所述的运算单元包含一微处理器。

5.按照权利要求2所述的校正装置，其特征在于：所述的运算单元包含一特殊应用集成电路。