[发明专利]成像装置有效

专利信息
申请号: 200710181962.1 申请日: 2003-07-07
公开(公告)号: CN101155240A 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 秋田正伦 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N1/00 分类号: H04N1/00;H04N1/028;H04N1/04
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置
【权利要求书】:

1.一种成像装置(1501),包括:

成像单元,用于在记录介质(15)上成像;

光照射单元(11),将光照射在记录介质(15)的表面上;

读取单元(13),读取由上述光照射单元(11)照射的、应该作为映像读取的记录介质(15)的表面上的照射区域;

运算单元(1623,1610),基于上述读取单元(13)的读取结果,对有关上述记录介质(15)的信息进行运算,该信息根据上述记录介质(15)的种类来确定在成像单元中设置的成像条件;

其特征在于,

上述光照射单元(11)和上述读取单元(13)被配置成使得连接上述光照射单元(11)和上述读取单元(13)的直线在上述记录介质(15)的输送表面上投影而成的直线相对于上述记录介质(15)的输送表面上的输送方向倾斜。

2.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:上述投影而成的直线相对于上述输送方向呈大致45度的角度。

3.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:上述读取单元(13)具有CMOS传感器或CCD传感器(201,1611),它们分别具有多像素,上述读取单元(13)将上述记录介质(15)的表面作为二维映像进行读取。

4.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于,还具有控制单元(1610),所述控制单元(1610)基于上述运算单元(1623,1610)的运算结果控制成像条件。

5.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:上述运算单元(1623,1610)对有关上述记录介质(15)的表面的平滑度的信息进行运算。

6.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:在上述记录介质(15)的表面上的映像中含有凹凸部,上述运算单元(1623,1610)对上述记录介质(15)上的以下信息进行运算,所述信息是与基于凹凸部的大小和凹凸部的宽度这两方面相关的信息。

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